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240kV 高功率微米焦點(diǎn)及奈米焦點(diǎn) 3D X-ray CT

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產(chǎn)品型號(hào)V|tome|x S240

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東莞市好邁電子科技有限公司

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產(chǎn)品簡(jiǎn)介

主要功能：靈活通用的CT系統(tǒng)

詳細(xì)介紹

主要功能：

靈活通用的CT系統(tǒng)，適于一般工作的2D和3D檢測(cè)
的開放式雙X射線源可選擇，240kV為焦點(diǎn)射線管與180kV高功率奈米焦點(diǎn)X射線管
高精密CNC控制機(jī)械平臺(tái)，可承受樣品重量達(dá)10kg
高對(duì)比度度平板檢測(cè)器
可用兩倍大視野掃描，檢查大型工具并獲得更大的放大倍率和分辨率
可實(shí)現(xiàn)批量3D自動(dòng)檢測(cè)
增加約10倍燈絲壽命，更長(zhǎng)的使用壽命燈絲(可選配)確保了長(zhǎng)期穩(wěn)定性和系統(tǒng)效率
通過菱形|窗口(可選)以同樣的高圖像質(zhì)量水平進(jìn)行快達(dá)2倍的數(shù)據(jù)截取
通過高動(dòng)態(tài)溫度穩(wěn)定的DXR數(shù)字探測(cè)器獲取的30 FPS(幀每秒)(可選配)的快速CT采集和清晰的活動(dòng)影像

效益特點(diǎn)：

3D測(cè)量軟件用于空間測(cè)量，具有精度、再現(xiàn)性和簡(jiǎn)易上手
在少于1小時(shí)之內(nèi)自動(dòng)生成檢測(cè)記錄是可能的
使用的軟件模塊以確保的CT質(zhì)量且便于使用，例如

通過點(diǎn)擊并測(cè)量|CT 用 datos|x 2.0進(jìn)行高精度可重現(xiàn)的3D測(cè)量：全自動(dòng)化執(zhí)行的CT掃描，重建和分析過程
通過 VELO | CT在幾秒鐘或幾分鐘內(nèi)（取決于體積大?。┩瓿筛斓娜SCT重建

■ 雙光管設(shè)計(jì)
為了擴(kuò)大應(yīng)用范圍，尤其是研究和電子檢測(cè)任務(wù)，V|tome|x S240 可以選擇配備額外的 180 kV 高功率納米聚焦 X 射線管，使 nanoCT® 具有 200 納米的細(xì)節(jié)檢測(cè)能力。在幾分鐘內(nèi)，只需切換按鈕，管子就會(huì)自動(dòng)更換。

■ 螺旋CT

Phoenix V|tome|x S240能夠執(zhí)行螺旋(或螺旋)掃描，您的樣品在X射線束中不斷向上移動(dòng)。這使您能夠更快地掃描更長(zhǎng)的零件，無需再將多個(gè)部分掃描結(jié)果拼接在一起。另一方面，由于消除了水平表面和拼接區(qū)域中的偽影，這種采集技術(shù)產(chǎn)生了明顯更好的結(jié)果。

■ 偏移CT
憑借偏移CT掃描功能，V|tome|x S240可以掃描比以往更大的零件，或相同尺寸的零件，但分辨率更高。

項(xiàng)目	描述
電壓	240kV
功率	320W
雙光管配置(選配)	180kV/15W/鉆石靶材
燈絲	預(yù)校正燈絲系統(tǒng)，簡(jiǎn)單快速更換燈絲，不需要校正
靶材	傳統(tǒng)鎢靶材(可選配High-Flux Target可提高檢測(cè)效率以及能量)
細(xì)節(jié)分辨能力	<1um / <0.2um (選配奈米管）
最小體素尺寸	<2um / <1um (搭配nanotube）
X光管類型	開放式微米射線管(雙光管配置開放式奈米射線管)
量測(cè)精度	(3.8+L/100 mm) μm referring to VDI 2630-1.3 guideline*
探測(cè)器	Dyan41\|200, 410 x 410 mm detection area, 4M pixel
探測(cè)器	DXR 250, 200 x 200 mm detection area, 1M pixel
幾何放大倍率(CT)	1.3x~100x / 400x (選配奈米管)
樣品尺寸/重量	460 mm x 360 mm / 10kg
防碰撞系統(tǒng)	雷射自動(dòng)防碰撞系統(tǒng)(可手動(dòng)取消提升提高放大倍率)
設(shè)備尺寸(寬度高度深度)	2,550 mm x 1,905 mm x 1,275 mm
總量	大約4.550kg
輻射安全	全機(jī)防輻射安全機(jī)柜，依據(jù)德國(guó)Rö和美國(guó)性能標(biāo)準(zhǔn)21 CFR Subchapter J.，輻射安全機(jī)柜可達(dá)防護(hù)程度，不需要其他形式的認(rèn)證。但因地區(qū)所制定的限制或許可證不在此限。
選配功能	高功率散熱靶材 2D 影像拍攝軟件 Flash Filter 螺旋掃描模塊偏移掃描模塊 CT量測(cè) 基本量測(cè)版

? 地質(zhì)/生物科學(xué)
高分辨率計(jì)算機(jī)斷層掃描(micro-ct 與nano-ct)廣泛用于檢測(cè)地質(zhì)樣品，例如:新資源的探索。高分辨率CT-系統(tǒng)以微觀高解析提供巖石樣品、粘合劑、膠合劑和空洞的3D圖像，并說明分辨特定的樣品特征，如含油巖石中空洞的大小和位置。

? 塑料工程
在塑料工程中，高分辨率的X射線技術(shù)用于通過探測(cè)縮孔、水泡、焊接線和裂縫并分析缺陷來優(yōu)化鑄造和噴涂過程。 X射線計(jì)算器斷層掃描(micro ct與nano ct)提供具有以下物體特點(diǎn)的3D圖像：如晶粒流模式和填料分布，以及低對(duì)比度缺陷。
玻璃纖維增強(qiáng)塑料樣品的nano-CT^®：玻璃纖維和礦物填料(紫色)的凝聚體的排列和分布都清晰可見。纖維大約有10um寬。

? 測(cè)量
用X射線進(jìn)行的3D測(cè)量是的可對(duì)復(fù)雜物體內(nèi)部進(jìn)行無損測(cè)量的技術(shù)。通過與傳統(tǒng)式觸覺坐標(biāo)測(cè)量技術(shù)的比較，對(duì)一個(gè)物體進(jìn)行計(jì)算機(jī)斷層掃描的同時(shí)可獲得所有的曲點(diǎn): 包括所有無法使用其他測(cè)量方法無損害進(jìn)入的隱蔽形體，如底切。v/tome/xs有一個(gè)特殊的3D測(cè)量包，其中包含空間測(cè)量所需的所有工具，從校準(zhǔn)儀器到表面提取模塊，具有可能的精度，可再現(xiàn)且具親和力。除了2D壁厚測(cè)量外，CT資料可以快速方便地與CAD資料進(jìn)行比較，例如，分析完成組件，以確保其符合所有的規(guī)定尺寸。
對(duì)氣缸蓋3個(gè)裝置的CAD差異分析和測(cè)量。

? 傳感器學(xué)和電氣工程
在傳感器和電子組件的檢測(cè)中，高分辨率X射線技術(shù)主要用于檢測(cè)和評(píng)估接觸點(diǎn)、接頭、箱子、絕緣子和裝配情況。甚至可以檢測(cè)半導(dǎo)體組件和電子設(shè)備（焊點(diǎn)），而無需拆卸設(shè)備。
Nano-CT^®顯示CSP組件的焊接接點(diǎn)。焊接接點(diǎn)的3D形狀，約直徑400um，空隙間隙分布清晰可見。焊接接點(diǎn)內(nèi)部，不同的共晶焊料相是可見的。

? 材料科學(xué)
高分辨率計(jì)算機(jī)斷層掃描(micro-ct 與nano-ct)用于檢測(cè)材料、復(fù)合材料、燒結(jié)材料和陶瓷，但也可應(yīng)用于地質(zhì)或生物樣品進(jìn)行分析。材料分配、空隙率和裂縫在微觀上是3D可視的。
玻璃纖維復(fù)合材料的nano-CT^®：纖維氈(藍(lán)色)的纖維方向和基質(zhì)樹脂(橙色)會(huì)清楚顯示出來。圖片右邊: 樹脂內(nèi)的空洞會(huì)以暗體出現(xiàn)。左邊：樹脂已淡出，以更好地使纖維氈可視化。氈內(nèi)的單跟纖維是可見的。

? 3D計(jì)算機(jī)斷層掃描
工業(yè)X射線3D計(jì)算機(jī)斷層掃描(micro-ct 與nano-ct) 的標(biāo)準(zhǔn)應(yīng)用是對(duì)金屬和塑料鑄件的檢測(cè)及3D測(cè)量。phoenix| X射線的高分辨率X射線技術(shù)開辟了在眾多領(lǐng)域的新應(yīng)用，如傳感器技術(shù)、電子、材料科學(xué)以及許多其他自然科學(xué)。
SMD傳感器的nanoCT^®, 尺寸0805 (2.0 mmx 1.2 mm)。三維X射線圖像顯示了后蓋后的內(nèi)部線圈。在任何常規(guī)的X光片中，圖層面板都是重迭的，但nanoCT^®成功地將對(duì)象逐層顯示。

? 缺陷分析
針對(duì)各種不同材質(zhì)與不同結(jié)構(gòu)，時(shí)常會(huì)有一些組裝后或是加工后所產(chǎn)生的結(jié)構(gòu)缺陷，例如：焊接處理不當(dāng)、雷射熔接不良?xì)馀?、組裝后的位置偏移…等等，這些缺陷往往因?yàn)榻Y(jié)構(gòu)復(fù)雜無法利用2D影像找到問題，3D CT可以有效地找出問題，并且可以重現(xiàn)區(qū)域影像，讓我們?cè)诜治鰰r(shí)可你更直觀的看到問題發(fā)生時(shí)的狀況，以便可以提出更完整的解決方案。

關(guān)鍵詞：校準(zhǔn)儀傳感器絕緣子電子設(shè)備