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NANOMAP D 光學(xué)探針雙模式三維形貌儀

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更新時(shí)間：2017-06-29 17:12:13瀏覽次數(shù)：756次

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產(chǎn)品簡介

薄/厚膜材料
薄/厚膜沉積后測量其表面粗糙度和臺(tái)階高度,表面結(jié)構(gòu)形貌, 例如太陽能電池產(chǎn)品的銀導(dǎo)電膠線
蝕刻溝槽深度，光刻膠/軟膜
亞微米針尖半徑選件和埃級(jí)別高度靈敏度結(jié)合，可測量溝槽深度形貌。
材料表面粗糙度、波紋度和臺(tái)階高度特性
分析軟件可輕易計(jì)算40多種的表面參數(shù)，包括表面粗糙度和波紋度。計(jì)算涵蓋二維或三維掃描模式。
表面光滑度和曲率
可從測量結(jié)果中計(jì)算曲率或區(qū)域曲率
薄膜二維應(yīng)力
測量薄膜

詳細(xì)介紹

薄/厚膜材料
薄/厚膜沉積后測量其表面粗糙度和臺(tái)階高度,表面結(jié)構(gòu)形貌, 例如太陽能電池產(chǎn)品的銀導(dǎo)電膠線
蝕刻溝槽深度，光刻膠/軟膜
亞微米針尖半徑選件和埃級(jí)別高度靈敏度結(jié)合，可測量溝槽深度形貌。
材料表面粗糙度、波紋度和臺(tái)階高度特性
分析軟件可輕易計(jì)算40多種的表面參數(shù)，包括表面粗糙度和波紋度。計(jì)算涵蓋二維或三維掃描模式。
表面光滑度和曲率
可從測量結(jié)果中計(jì)算曲率或區(qū)域曲率
薄膜二維應(yīng)力
測量薄膜應(yīng)力，能幫助優(yōu)化工藝，防止破裂和黏附問題
表面結(jié)構(gòu)和尺寸分析
無論是二維面積中的坡度和光滑度，波紋度和粗糙度，還是三維體積中的峰值數(shù)分布和承載比，本儀器都提供相應(yīng)的多功能的計(jì)算分析方法。
缺陷分析和評(píng)價(jià)
*的功能性檢測表面特征，表面特征可由用戶自定義。一旦檢測到甚至細(xì)微特征，能在掃描的中心被定位和居中，從而優(yōu)化缺陷評(píng)價(jià)和分析。