GCSTD-A/B2020新款GCSTD系列高頻介電常數測試儀資料的詳細資料：

介電常數測試儀及介質損耗測試儀

主要用途:

主要用于測量非金屬材料的介電常數（ε）和介質損耗（tanδ）

應用對象:

該儀器用于科研機關、學校、工廠等單位對無機非金屬新材料性能的應用研究

電極規(guī)格

固體：材料測量直徑Φ38mm 可選；厚度可調 ≥ 15mm

液體：測量極片直徑 Φ38mm；液體杯內徑Φ48mm 、深7mm（選配）

粉體：測量極片直徑 Φ38mm；液體杯內徑Φ48mm 、深7mm（選配）

試樣要求：固體樣品厚度要求：0.5-15MM

其它規(guī)格：

1、環(huán)境溫度：0℃～+40℃；

2、相對濕度：<80％；

3、電源：220V±22V，50Hz±2.5Hz。

4、消耗功率：約25W；

5、凈重：約7kg；

6、外型尺寸：（長寬高）：380×280×132（mm）

測量方法?可采用直接測量法和替代法兩種。當采用直接測量法時，必須消除連接線和試樣實具等分布參數?的影響。?測量電路的分布參數可用圖4表示，圖中Ls、Rs為與試樣串聯(lián)的連接線、夾具等的等效電感及?電阻，Cp、RP為與試樣并聯(lián)的連接線、夾具等的等效電容及電阻。當Ls、Rs很小,且可忽略時,?或當CP

9個電感規(guī)格：

電感No	電感量	準確度%	Q值≥	分布電容約略值	諧振頻率范圍 MHz		適合介電常數測試頻率
電感No	電感量	準確度%	Q值≥	分布電容約略值	GCSTD/A/AI	GCSTD-B	適合介電常數測試頻率
1	0.1μH	±0.05μH	200	5pF	20~70	31~103	50MHz
2	0.5μH	±0.05μH	200	5pF	10~37	14.8~46.6	15MHz
3	2.5μH	±5%	200	5pF	4.6~17.4	6.8~21.4	10MHz
4	10μH	±5%	200	6pF	2.3~8.6	3.4~10.55	5MHz
5	50μH	±5%	200	6pF	1~3.75	1.5~4.55	1.5MHz
6	100μH	±5%	200	6pF	0.75~2.64	1.06~3.20	1MHz
7	1mH	±5%	150	8pF	0.23~0.84	0.34~1.02	0.5MHz
8	5mH	±5%	130	8pF	0.1~0.33	0.148~0.39	0.25MHz
9	10mH	±5%	90	8pF	0.072~0.26	0.107~0.32	0.1MHz