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主要參數(shù)：
測(cè)量范圍 | 按方塊電阻量值大小分為二個(gè)量程檔： 1.方塊電阻 1.00～199.99Ω/□； 2.方塊電阻 10.0～1999.9Ω/□； zui小分辨率：0.01Ω/□ |
恒流源 | 測(cè)量過(guò)程誤差：≤±0.8% |
模數(shù)轉(zhuǎn)換器 | 量程：0～199.99mv； 分辨率：10μv； 方式：LCD大屏幕顯示；極性，超量程均自動(dòng)顯示；小數(shù)點(diǎn)同步顯示； |
測(cè)量不確定度 | 在整個(gè)量程范圍內(nèi)，測(cè)量不確定度≤5% |
四探針探頭規(guī)格 | 間距：1mm、1.59mm、3.8mm；偏差≤2%；游移率≤0.3%；絕緣電阻≥500MΩ |
電源 | 9V疊層電池1節(jié) |
| ◆ ST-21方塊電阻測(cè)試儀可選配HP系列四探針探頭的型號(hào)及規(guī)格： | |||||||||||||||||||||||||
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| ◆ ST-21方塊電阻測(cè)試儀可選配SP-601型方型四探針探頭的型號(hào)及規(guī)格： | ||||||||||
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產(chǎn)品描述：
ST-21型方塊電阻測(cè)試儀是一種依照類似的國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)和美國(guó)A.S.T.M標(biāo)準(zhǔn)，專門(mén)測(cè)量半導(dǎo)體薄層電阻(表面電阻)的新型儀器，可用于測(cè)量一般半導(dǎo)體材料、導(dǎo)電薄膜(ITO透明氧化膜)，金屬薄膜……等同類物質(zhì)的薄層電阻。
該儀器以大規(guī)模集成電路為主要核心；用基準(zhǔn)電源和運(yùn)算放大器組成高精度穩(wěn)流源；帶回路有效正常指示電路；并配以大型LCD顯示讀數(shù)，使儀器具有體積小、重量輕、外形美、易操作、測(cè)量速度快、精度高的特點(diǎn)。
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