煙（粉）塵濃度監(jiān)測(cè)儀TC-MODEL-3020

產(chǎn)品 編 號(hào)：TC-008346
煙（粉）塵濃度監(jiān)測(cè)儀TC-MODEL-3020可用于各種污染排放源的顆粒污染物濃度實(shí)時(shí)連續(xù)測(cè)量,可配套煙氣監(jiān)測(cè)系統(tǒng),也可單*臺(tái)或幾臺(tái)連接成一套煙塵監(jiān)測(cè)網(wǎng)絡(luò),共用一個(gè)前臺(tái)。 儀器可于電廠,鋼廠,水泥廠等煙塵監(jiān)測(cè),也可用于除塵設(shè)備及其它粉體工程的過程控制. 
采用激光背散射原理,不怕煙道的機(jī)械振動(dòng)及煙氣溫度不均造成的折射率不均造成的光束擺動(dòng). 
單端安裝,無需光路對(duì)中. 
儀器設(shè)計(jì)貫徹“無工具”現(xiàn)場(chǎng)安裝的思路，zui大限度地降低現(xiàn)場(chǎng)安裝的復(fù)雜度，儀器及防雨系統(tǒng)的安裝僅電器連接需要一支螺絲刀，不必帶連接螺栓、螺母，10分鐘內(nèi)即可完成安裝，zui大限度地減少由于現(xiàn)場(chǎng)安裝調(diào)試帶來的諸多問題. 
采用標(biāo)準(zhǔn)4-20mA工業(yè)標(biāo)準(zhǔn)電流輸出,連接方便. 
儀器整體功耗非常小,大約5w左右. 
一般標(biāo)準(zhǔn)設(shè)置參數(shù)可于煙道璧厚小于400，煙道直徑大于儀器標(biāo)示（D.GT. 2000）,在特殊的要求條件下測(cè)量區(qū)大小可以訂制. 用戶也可以在經(jīng)維護(hù)人員的認(rèn)可及指導(dǎo)下調(diào)整. 
技術(shù)指標(biāo)： 
尺寸、重量:                      160×160×250mm  4Kg 
環(huán)境要求:                        溫度：-40℃~65℃/相對(duì)濕度：0- R. H. 
測(cè)量誤差:                        ±2%FS 
介質(zhì)條件:                        溫度  zui高300℃（高溫需定制） 
信號(hào)輸出:                        4-20mA 
zui大輸出負(fù)載:                    500Ω 
靈敏度:                          2mg/m3 
測(cè)量范圍:                        zui小0-200mg/m3/zui大0-10g/m3 
可以測(cè)量煙囪大小:                1-15m 
功耗:                            3 W 
供電:                            DC 16-24V±10% 
可顯示數(shù)據(jù) 

 產(chǎn)品名稱：維氏硬度計(jì) 
產(chǎn)品型號(hào)：TDHV-50A

維氏硬度計(jì) 型號(hào)：TDHV-50A

TDHV-50A型維氏硬度計(jì) 
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TDHV-50A型維氏硬度計(jì) 
該機(jī)采用無摩擦主軸，試驗(yàn)力精度高；構(gòu)造堅(jiān)固，測(cè)試效率高；高精度讀數(shù)測(cè)微計(jì)量系統(tǒng)；試驗(yàn)過程自動(dòng)化，無人為操作誤差；精度符合GB/T4340.2  ISO6507-2 和美國(guó)ASTM E92。 
維氏硬度計(jì)主要范圍 
滲氮層、陶瓷、鋼、有色金屬；薄板、金屬薄片、電鍍層、微小試件；材料強(qiáng)度、熱處理、碳化層、脫碳層和淬火硬化層的深度；應(yīng)用范圍廣，特別于平行平面的精密測(cè)量。 
維氏硬度計(jì)主要技術(shù)參數(shù) 
TDHV-50A型維氏硬度計(jì) 
測(cè)量范圍：5-2900HV 
試 驗(yàn) 力：49.03、98.07、196.1、294.2、490.3牛頓 
              （1、5、10、20、30、50公斤力） 
試樣允許大高度：180毫米              壓頭中心至機(jī)壁距離：125毫米 
光學(xué)測(cè)微計(jì)放大倍數(shù)：125倍，50倍     小檢測(cè)單位：1微米 
電     源：交流220V，50/60赫茲       外形尺寸：580 x 260 x 730毫米 
重     量：約90千克 
維氏硬度計(jì)主要附件 
大平試臺(tái)： 1個(gè)            小平試臺(tái)：        1個(gè) 
V型試臺(tái)：  1個(gè)            金剛石角錐壓頭：1只 
標(biāo)準(zhǔn)維氏硬度塊：3塊

產(chǎn)品名稱：非接觸厚度電阻率測(cè)試儀
產(chǎn)品型號(hào)：JXNRT1

非接觸厚度電阻率測(cè)試儀型號(hào)：JXNRT1 
一、測(cè)試原理 
1、電阻率測(cè)試探頭原理 
電阻率測(cè)試模塊是由一對(duì)共軸渦流傳感器，以及后續(xù)的處理電路組成。將半導(dǎo)體硅片置于兩個(gè)探頭的間隙中時(shí)，在電磁場(chǎng)的作用下，半導(dǎo)體硅片中會(huì)產(chǎn)生渦流效應(yīng)，通過檢測(cè)渦流效應(yīng)的大小，可以換算出該硅片的電阻率和方塊電阻。本方法是一種非接觸無損測(cè)量的方法，不損傷材料表面，可以在大多數(shù)場(chǎng)合有效替代四探針法測(cè)試電阻率以及方塊電阻。 
2、厚度測(cè)試探頭原理 
厚度探頭采用的是一對(duì)共軸電容位移傳感器。電容傳感器具有重復(fù)性好，測(cè)試數(shù)值穩(wěn)定，技術(shù)成熟等優(yōu)點(diǎn)，廣泛用于各種材料厚度的測(cè)試。 
  
二、范圍 
本設(shè)備為非接觸無損測(cè)量設(shè)備，測(cè)試過程中對(duì)硅片表面以及內(nèi)部不會(huì)造成損傷。特別于代替四探針法用于半導(dǎo)體硅片成品分選檢驗(yàn)。一臺(tái)儀器可以同時(shí)對(duì)厚度和電阻率兩個(gè)指標(biāo)進(jìn)行測(cè)試分選，減少了測(cè)試工序和測(cè)試時(shí)間，提高了測(cè)試效率。 
典型的客戶：科研單位、硅片生產(chǎn)廠商、半導(dǎo)體器件生產(chǎn)廠商、光伏企業(yè)、導(dǎo)電薄膜生產(chǎn)企業(yè)。 
三、儀器構(gòu)成 
1、測(cè)試主機(jī)：1 臺(tái) 
2、電源線：1 根 
3、串口數(shù)據(jù)線：1 根 
4、電腦端軟件：1 套 
5、塑料定位柱：2 個(gè) 

四、儀器外觀尺寸結(jié)構(gòu)及圖片 
1、整機(jī)尺寸：340*260*180mm 
2、機(jī)箱顏色：電腦白 


3、儀器結(jié)構(gòu)：本儀器采用厚度探頭和電阻率探頭前后并列安裝的方式。 
五、儀器主要指標(biāo) 
1、電氣規(guī)格 
a. 使用標(biāo)準(zhǔn)三插頭，由 220V 交流電供電，整機(jī)功耗小于 15 瓦。 
b. 本儀器測(cè)試平臺(tái)和外殼均為金屬材料，按照安全規(guī)范，請(qǐng)確保電源地線正確連接。 
2、測(cè)試范圍 
測(cè)試樣品要求：厚度小于 600um 的半導(dǎo)體硅片以及其他類似材料。(為客戶提供特殊定制，厚度大的測(cè)試范圍可以擴(kuò)展到 800um) 
電阻率范圍： L 檔： 0.2-5 Ω·cm 
H 檔： 5-50 Ω·cm 
注： 電阻率不在上述量程范圍內(nèi)的可以按要求調(diào)整， 調(diào)整的范圍可以在0.001-100Ω*cm。 
厚度范圍： 100-600 um （定制版可以做到 300-800um） 注：普通版本厚度大于 700um 的硅片無法放入測(cè)試區(qū)域。