Sigma探針 - 表面分析產(chǎn)品

Routine reliable analysis for applications ranging from materials fabrication to catalysis and process control
 

Sigma探針
 Sigma 探針結(jié)合了小光斑XPS分析和多樣品無人值守操作分析能力。
小區(qū)域特征和缺陷表面分析對于了解*材料成分或性能至關(guān)重要，Sigma探針提供這些特征的精確和準(zhǔn)確分析功能。微聚集X射線單色器確保小區(qū)域特征在盡可能高的靈敏度條件下進行測試分析。大樣品臺和電機驅(qū)動允許多樣品無人值守操作，與強大的Avantage數(shù)據(jù)系統(tǒng)相結(jié)合，zui大限度地提高了在繁忙實驗室中樣品的測試通量。
XPS是眾多材料特性表征技術(shù)中行之有效的測試手段，目前已成為從生物材料到半導(dǎo)體材料等許多技術(shù)領(lǐng)域*材料開發(fā)的重要工具。Sigma探針為小面積（低至15µm）提供了高靈敏高分析。自動化樣品臺提供了多樣品無人值守操作——樣品通量zui大化。

主要特征
高性能XPS儀器使用大角度電子收集，確保高收集效率
X射線單色器用戶可選光斑范圍15µm至400µm
安裝大樣品或多個樣品功能
基于Windows的Avantage數(shù)據(jù)系統(tǒng)控制
CCD樣品校準(zhǔn)顯微鏡垂直于樣品表面

透鏡、能量分析器和檢測器
電磁透鏡大角度（60°）收集光電子
180°球型能量分析器在輸出板位置配置六通道檢測器，提供一個大的線性計數(shù)率范圍

X射線光源
所有Sigma探針儀器均配置微聚集單色器
分析區(qū)域面積可調(diào)， X射線光斑選擇范圍15µm至400µm

深度剖析
數(shù)字化控制的EX05離子槍是一款高性能的離子源，可用于提供優(yōu)異的深度剖析測試——即便使用低能離子
樣品多方位旋轉(zhuǎn)可用于高性能的深度剖析測試

樣品安裝
所有Sigma探針儀器均配置電機驅(qū)動五軸樣品臺
樣品臺可安裝大樣品——移動范圍X軸和Y軸70mm，Z軸（高度）25 mm

真空系統(tǒng)
分析室使用5毫米厚鉬合金材料制造，zui大限度地提高磁屏蔽效率

樣品制備
如需要，儀器可以配置一個制備室

表面分析儀器和部件由Avantage數(shù)據(jù)系統(tǒng)控制：
軟件集成了測試分析的所有方面，包括儀器控制、數(shù)據(jù)采集、數(shù)據(jù)處理和報告生成
基于Windows的軟件包，可以通過網(wǎng)絡(luò)遠程控制，輕易實現(xiàn)與第三方軟件如微軟Word軟件兼容
負責(zé)從樣品分析到報告生成整個測試分析過程