 | 日立掃描電鏡樣品清洗儀Zone SEM II |
日立Zone SEM II為掃描電鏡樣品前處理裝置，利用臭氧/紫外快速清除樣品表面容易引起污染的碳氫化合物且不損傷樣品，限度上提高電鏡的觀察效果，還原材料的真實形貌。
主要特點：
- 1. 可快速無損傷清潔樣品表面污染物；
- 2. Zone SEM清潔區(qū)域范圍70mm；
- 3. 可同時用作樣品儲藏器保存樣品;
- 4. 無需額外的水、氣供給系統(tǒng)，占地空間小
應(yīng)用領(lǐng)域：
- 1. 樣品細節(jié)需要高分辨觀察或表面信息豐富，表面污染物易覆蓋；
- 2. 需要低加速電壓觀察樣品表面；
- 3. SE、BSE、TEM/STEM觀察時易產(chǎn)生碳沉積影響觀察的處理；
- 4. 需要較長時間觀察的EBSD或EDS/WDS樣品表面的清潔。
清洗實例：
