用于工藝質(zhì)量監(jiān)控定標(biāo)性測(cè)試系統(tǒng)ContourGT-X是實(shí)驗(yàn)室開發(fā)到批量生產(chǎn)均可適用的儀器。它積累了代產(chǎn)品在白光干涉技術(shù)上的，實(shí)現(xiàn)了快速地三維表面測(cè)量，從納米級(jí)粗糙度表面的測(cè)量到毫米級(jí)臺(tái)階的測(cè)量，垂直分辨率可達(dá)亞納米級(jí)。可編程的XYZ控制和掃描頭自動(dòng)控制，使得儀器操作簡(jiǎn)便易行。配備的Vision64軟件，具有業(yè)界儀器測(cè)量和數(shù)據(jù)分析功能，而其優(yōu)化設(shè)計(jì)的用戶界面為使用者自行定義自動(dòng)測(cè)量和數(shù)據(jù)分析提供了便利。
ContourGT-X是當(dāng)今業(yè)界xian進(jìn)的白光干涉儀，可用于眼科鏡片、、高亮度LED、半導(dǎo)體器件、TSV、太陽能電池片、汽車零部件、觸摸屏和加工零件等各行業(yè)，為用戶提供快速、準(zhǔn)確地三維非接觸式測(cè)量。內(nèi)部激光自校準(zhǔn)技術(shù)可以自動(dòng)校準(zhǔn)因環(huán)境或機(jī)械不穩(wěn)定產(chǎn)生的漂移，無需標(biāo)準(zhǔn)塊。大學(xué)、研究所，工業(yè)領(lǐng)域的LED行業(yè)、太陽能行業(yè)、觸摸屏行業(yè)、半導(dǎo)體行業(yè)以及數(shù)據(jù)存儲(chǔ)行業(yè)、科學(xué)研究、產(chǎn)品開發(fā)、質(zhì)量控制及失效分析等領(lǐng)域業(yè)界xian進(jìn)的白光干涉儀
ContourGT-X配備傾斜調(diào)整支架、全自動(dòng)X,Y, Z 樣品臺(tái)、自動(dòng)視場(chǎng)目鏡轉(zhuǎn)換臺(tái)，測(cè)試過程更快、更便捷。節(jié)省空間高穩(wěn)定性的基座設(shè)計(jì)以及與機(jī)臺(tái)集成一體式的防震系統(tǒng)，使系統(tǒng)具有防震性與穩(wěn)定性。配備新的Vision64軟件，具有業(yè)界儀器測(cè)量和數(shù)據(jù)分析功能，而其優(yōu)化設(shè)計(jì)的用戶界面為使用者自行定義自動(dòng)測(cè)量和數(shù)據(jù)分析提供了便利。
儀器特性：
· 業(yè)界，大視場(chǎng)下高的垂直分辨率
· 從0.5x到200x不同放大倍率實(shí)現(xiàn)不同面型和織構(gòu)表面的表征
· 硬件的優(yōu)化設(shè)計(jì)進(jìn)一步的儀器抗噪聲能力、系統(tǒng)靈活性和測(cè)量穩(wěn)定性
· 激光自校準(zhǔn)技術(shù)使得儀器間測(cè)量數(shù)據(jù)一致，測(cè)量的重復(fù)性和準(zhǔn)確性
· 優(yōu)異的縫合能力可以對(duì)上千個(gè)數(shù)據(jù)無縫拼接，實(shí)現(xiàn)樣品大面積檢測(cè)
· 多核處理器和64位軟件使數(shù)據(jù)分析速度
