一.概述Overview：
四探針法測試低阻材料方阻及電阻率，可以測試到1uΩ方阻值，采用AD芯片控制，恒流輸出，液晶顯示，自動數(shù)據(jù)測量，系數(shù)補償，
參考美國 A.S.T.M 標準。利用電流探針、電壓探針的變換，進行兩次電測量. 提供中文或英文語言版本.Refer to the American A.S.T.M. standard.Using The transformation of the current probe and voltage probe to make two times electric measurements. Provide Chinese or English language version.
低阻雙電四探針測試儀
適用范圍：
四探針法測試的 導電性新材料、鋁箔、銅箔等具有類似性質要求測量的材料.
The high conductivity new materials.aluminum foil. copper foil. etc. which have similar properties are tested by four probes test method.
參數(shù)資料Technical Parameters：
| 規(guī)格型號specification model | FT-361A | FT-361B |
| 1.方塊電阻范圍sheet resistance | 10-6～2×102Ω/□ | 10-6～2×105Ω/□ |
| 2.電阻率范圍resistivity | 10-7～2×103Ω-cm | 10-7～2×106Ω-cm |
| 3.測試電流范圍test current | 1A、100mA、10mA、1mA、100uA、10uA、1uA、0.1uA | |
| 4.電流精度current accuracy | ±0.1% | |
| 5.電阻精度resistance accuracy | ≤0.3% | |
| 6.顯示讀數(shù)display | 液晶顯示：電阻、電阻率、方阻、溫度、單位換算、溫度系數(shù)、電流、電壓、探針形狀、探針間距、厚度 、電導率LCD: Resistance. resistivity. sheet resistance. temperature. unit conversion.temperature coefficient. current. voltage. probe shape. probe spacing. thickness. conductivity | |
| 7.測試方式test mode | 組合雙電測試方法combined double electric test method | |
| 8.工作電源working power | 輸入: AC 220V±10%.50Hz功 耗：<30W | |
| 9.誤差errors | ≤4%（標準樣片結果）（standard samples） | |
| 10.選購功能choose to buy | 選購1.pc軟件； 選購2.方形探頭； 選購3.直線形探頭； 選購4.測試平臺；5.標準電阻1.pc software; 2. square probe; 3. linear probe; 4. test platform | |
| 11.測試探頭test probe | 探針間距選購： 2mm；3mm兩種規(guī)格; 探針材質選購：碳化鎢針、鍍金磷銅半球形針Optional probe spacing: 1mm；2mm；3mm in three sizes.Select probe material: tungsten carbide needle. white steel needle. gilded copper hemispherical needles. | |
