ICT的HP3070 是由美商 Agilnet 公司制造的電路板測(cè)試機(jī)臺(tái) , 目前可說是同業(yè)中價(jià)錢*貴, 但也是功能*強(qiáng)大的機(jī)臺(tái) ;因?yàn)楣δ軓?qiáng)大 , 操作上也相對(duì)有些復(fù)雜 ; 對(duì)新人來說是要更專心學(xué)習(xí)才能擔(dān)負(fù)起測(cè)試的工作 .
目前的機(jī)臺(tái)有二代及三代的機(jī)臺(tái) , 外觀上大致相同 ; 而且二代機(jī)臺(tái)也有進(jìn)行升級(jí) , 所以功能和三代一樣 ; 不同地方
為操作系統(tǒng)的不一樣 , 三代中有些操作系統(tǒng)為WIN 2000
, 其它為UNIX 操作系統(tǒng) ; 但測(cè)試操作接口是相同的 , 不會(huì)有太大差異 .
ICT 測(cè)試機(jī)器分為三大部份:
▲Testhead :ICT測(cè)試機(jī)臺(tái)部份
▲Computer :計(jì)算機(jī)部份
▲Support Bay:電源箱部份
測(cè)試機(jī)臺(tái)架有測(cè)試治具 , 由氣壓(air)閥把治具鎖在機(jī)臺(tái)上 ; 測(cè)試時(shí)由使用真空( Vacuum )抽取治具內(nèi)的空氣 ; 使治具上下板的測(cè)試針,扎到板上的測(cè)試點(diǎn)上 ; 由機(jī)臺(tái)內(nèi)的控制卡在控制測(cè)試 .
其測(cè)試功能有如使用數(shù)千個(gè)三用電表在測(cè)試，但不同處在于使用OP Amp反相放大電路來量測(cè)，除open、short testing外并且可測(cè)試電路板上單一零件；另外可以由電源箱提供電源, 上電至待測(cè)板上 ; 進(jìn)行數(shù)字測(cè)試 .
程序的測(cè)試順序 :
( 一般測(cè)試分為此幾大項(xiàng) , 講解重點(diǎn) : 測(cè)試順序, 測(cè)試內(nèi)容 )
▲ Pins test: 測(cè)試探針接觸待測(cè)板是否良好
▲ Shorts test: 測(cè)試open及shorts
▲ Unpower analog: 不上電的模擬組件測(cè)試,像拿電表量組件一樣
▲ Testjet: 利用電容原理,測(cè)試組件或connect開路
▲ Auto inster: 用來測(cè)試無(wú)法使用Testjet 測(cè)試的connect,例如:橫向開口connect
▲ On power: 由power supply供電至待測(cè)板
▲ Digital test: 數(shù)字組件或IC組件測(cè)試
▲ Analog function: 一些必須上電測(cè)試的大電壓模擬
