高低溫沖擊試驗(yàn)機(jī)產(chǎn)品型號(hào)
型號(hào) | DR-H203-100 | DR-H203-150 | DR-H203-225 | DR-H203-500 | DR-H203-800 | DR-H203-1000 |
內(nèi)箱尺寸(WxHxD)mm | 400x500x500 | 500x600x500 | 500x750x600 | 700x800x900 | 1000x1000x800 | 1000x1000x1000 |
溫度范圍 | G:-20℃ ~ +100℃(150℃);Z:-40℃ ~ +100℃(150℃);D:-70℃ ~ +100℃(150℃) | |||||
結(jié)構(gòu) | 三箱式(低溫區(qū)、高溫區(qū)、測(cè)試區(qū)) / 兩箱式(低溫區(qū)、高溫區(qū)、吊籃) | |||||
氣門裝置 | 強(qiáng)制的空氣裝置氣門 / 吊籃 | |||||
內(nèi)箱材質(zhì) | 鏡面不銹鋼 SUS 304 | |||||
外箱材質(zhì) | 霧面拉絲不銹鋼板 / 冷軋鋼板烤漆 | |||||
測(cè)試架 | 不銹鋼架 | |||||
冷凍系統(tǒng) | 二段式 | |||||
冷卻方式 | 半密閉式雙段壓縮機(jī)(水冷式)/全封閉式雙段壓縮機(jī)(風(fēng)冷式) | |||||
高溫區(qū)溫度 | +60 ℃~ +200 ℃ | |||||
低溫區(qū)溫度 | -10 ℃~ -80 ℃ /-10 ℃~ -70 ℃ | |||||
高溫沖擊溫度范圍 | +60 ℃~ +150℃ | |||||
低溫沖擊溫度范圍 | -10 ℃~ -55 ℃ /-10 ℃~ -65 ℃ | |||||
溫度均勻度 | ± 2 ℃ | |||||
溫度波動(dòng)度 | ± 1.0 ℃ | |||||
高溫沖擊時(shí)間 | Rt ~ +150 ℃ /5min | |||||
低溫沖擊時(shí)間 | Rt ~ -55 ℃ /5min Rt ~ -65 ℃ /5min | |||||
預(yù)熱時(shí)間 | 45min | |||||
預(yù)冷時(shí)間 | 100min |
溫度控制與范圍:溫度冷熱沖擊試驗(yàn)箱能夠精確控制高低溫度的范圍,通常低溫可達(dá)-70℃,高溫可達(dá)+150℃或更高。
快速溫度變化:設(shè)備能夠在極短的時(shí)間內(nèi)(通常幾秒到幾分鐘)完成溫度的轉(zhuǎn)換,模擬真實(shí)的溫度沖擊環(huán)境。
溫度波動(dòng)度與均勻性:溫度波動(dòng)度通常要求控制在±0.5℃以內(nèi),溫度均勻度在±2℃以內(nèi),確保試驗(yàn)箱內(nèi)各個(gè)位置的樣品都能經(jīng)歷相似的溫度沖擊條件。
安全保護(hù):具備過溫、過載、短路等多重安全保護(hù)措施,確保試驗(yàn)過程的安全性。
數(shù)據(jù)記錄與分析:現(xiàn)代冷熱沖擊試驗(yàn)箱通常配備有數(shù)據(jù)記錄系統(tǒng),可以實(shí)時(shí)記錄試驗(yàn)數(shù)據(jù),便于后續(xù)分析。
控制系統(tǒng):控制器采用的可編程觸摸液晶顯示屏,具有PID參數(shù)自整定功能,能夠自動(dòng)進(jìn)行詳細(xì)的故障顯示和報(bào)警。
結(jié)構(gòu)特性:內(nèi)箱材質(zhì)通常采用1.2mm SUS#304不銹鋼,外箱材質(zhì)采用1.2mm冷軋鋼板,表面噴漆處理,保溫層采用高強(qiáng)度PU發(fā)泡與高密度防火玻璃纖維棉(厚度100mm)。
溫度沖擊范圍與恢復(fù)時(shí)間:溫度沖擊范圍可從-30℃至150℃,溫度恢復(fù)時(shí)間通常在5分鐘以內(nèi)。
切換時(shí)間:兩箱式試驗(yàn)箱的樣品轉(zhuǎn)移時(shí)間通常小于10秒,三箱式試驗(yàn)箱則通過控制氣體流動(dòng)來完成溫度沖擊,切換時(shí)間快速。
噪音控制:設(shè)備運(yùn)行時(shí)的噪音控制在65db以內(nèi)。
耐用性和可靠性:設(shè)備采用高強(qiáng)度、高可靠性的結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì),確保了設(shè)備的高可靠性和使用壽命。
環(huán)保型制冷劑:使用環(huán)保型制冷劑,確保設(shè)備更加符合環(huán)境保護(hù)要求。
三箱結(jié)構(gòu)冷熱沖擊試驗(yàn)機(jī)的測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)主要包括以下幾項(xiàng):
GB/T2423.1-2008試驗(yàn)A低溫試驗(yàn)方法:規(guī)定了電工電子產(chǎn)品在低溫條件下的試驗(yàn)方法,適用于評(píng)估產(chǎn)品在低溫環(huán)境下的性能和可靠性。
GB/T2423.2-2008試驗(yàn)B高溫試驗(yàn)方法:規(guī)定了電工電子產(chǎn)品在高溫條件下的試驗(yàn)方法,用于測(cè)試產(chǎn)品在高溫環(huán)境下的穩(wěn)定性和耐久性。
GB/T10592-2008高低溫箱技術(shù)條件:涉及高低溫試驗(yàn)箱的技術(shù)條件,包括設(shè)備的性能要求和測(cè)試方法。
GJB150.3-1986JUN用設(shè)備環(huán)境試驗(yàn)方法:高溫試驗(yàn):JUN用標(biāo)準(zhǔn),規(guī)定了JUN用設(shè)備在高溫條件下的試驗(yàn)方法。
GJB360A-96方法107溫度沖擊試驗(yàn)的要求:JUN用標(biāo)準(zhǔn),涉及溫度沖擊試驗(yàn)的具體要求和方法。
IEC60068-2-14基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)范第2部分試驗(yàn)N溫度變化:國(guó)際電工委員會(huì)標(biāo)準(zhǔn),規(guī)定了在特定時(shí)間內(nèi)快速溫度變化試驗(yàn)的方法,包括溫度轉(zhuǎn)換時(shí)間、保持時(shí)間和極限值等參數(shù)。
ISO16750-4:涉及汽車電子設(shè)備在冷熱沖擊環(huán)境下的試驗(yàn)條件和方法。
電子行業(yè)溫度沖擊試驗(yàn)箱是一種專門用于檢測(cè)電子元器件、設(shè)備和材料在經(jīng)歷快速溫度變化(冷熱交替)的環(huán)境下是否能夠保持性能穩(wěn)定和長(zhǎng)期可靠性的測(cè)試設(shè)備。電子產(chǎn)品在實(shí)際使用過程中,尤其是移動(dòng)設(shè)備、家電、汽車電子等,往往會(huì)遭遇溫度波動(dòng)。因此,進(jìn)行溫度沖擊試驗(yàn),確保產(chǎn)品在惡劣溫度條件下的可靠性和穩(wěn)定性,對(duì)提升電子產(chǎn)品質(zhì)量至關(guān)重要。
溫度沖擊試驗(yàn)箱在電子行業(yè)的作用
檢測(cè)電子元器件的熱應(yīng)力:電子元器件如電池、電容、電阻、晶體管等,在高低溫變化環(huán)境中會(huì)經(jīng)歷不同的熱膨脹和收縮,可能導(dǎo)致電氣連接的損壞或性能下降。溫度沖擊試驗(yàn)箱能夠模擬這些溫度變化,檢測(cè)元器件在惡劣環(huán)境下的耐用性和可靠性。
驗(yàn)證產(chǎn)品的耐用性:許多電子產(chǎn)品在使用過程中會(huì)暴露在快速溫度變化的環(huán)境下,如高溫環(huán)境下的使用、低溫環(huán)境下的存儲(chǔ)等。通過溫度沖擊試驗(yàn),可以驗(yàn)證產(chǎn)品在這些環(huán)境下的性能,確保在不同溫度變化下不會(huì)出現(xiàn)故障。
提高產(chǎn)品的設(shè)計(jì)質(zhì)量:通過模擬溫度變化對(duì)電子產(chǎn)品的影響,溫度沖擊試驗(yàn)可以幫助研發(fā)團(tuán)隊(duì)發(fā)現(xiàn)潛在的設(shè)計(jì)缺陷,優(yōu)化產(chǎn)品的結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)和材料選擇,從而提高產(chǎn)品的整體質(zhì)量和市場(chǎng)競(jìng)爭(zhēng)力。
確保符合行業(yè)標(biāo)準(zhǔn):電子產(chǎn)品通常需要符合各種國(guó)際標(biāo)準(zhǔn),如IEC 60068-2-14(用于測(cè)試電子產(chǎn)品的溫度沖擊標(biāo)準(zhǔn)),MIL-STD-810(美國(guó)JUN用設(shè)備標(biāo)準(zhǔn)),以及ISO 16750(汽車電子設(shè)備的溫度沖擊標(biāo)準(zhǔn))等。溫度沖擊試驗(yàn)箱能夠確保電子產(chǎn)品滿足這些標(biāo)準(zhǔn),進(jìn)而獲得必要的認(rèn)證。
電子行業(yè) 溫度沖擊試驗(yàn)箱的特點(diǎn)
溫度范圍:溫度沖擊試驗(yàn)箱通常具有較寬的溫度范圍,適用于電子產(chǎn)品的測(cè)試。常見的溫度范圍從**-70°C到+180°C**,高中端型號(hào)甚至能夠達(dá)到**-100°C到+200°C**的更惡劣溫度范圍,以滿足各種應(yīng)用的需求。
快速溫度變化能力:電子產(chǎn)品在使用中可能會(huì)快速經(jīng)歷從高溫到低溫的變化,溫度沖擊試驗(yàn)箱能夠模擬這種快速變化。常見的溫度變化速率為10°C/min至20°C/min,高中端設(shè)備能夠達(dá)到30°C/min以上。
雙區(qū)或三區(qū)設(shè)計(jì):為了提高測(cè)試效率,許多溫度沖擊試驗(yàn)箱采用雙區(qū)或三區(qū)設(shè)計(jì)。箱體分為高溫區(qū)、低溫區(qū)和測(cè)試區(qū),樣品可以在這些區(qū)域之間快速切換,模擬溫度的快速變化。
精確的溫控系統(tǒng):高精度的溫控系統(tǒng)對(duì)于電子產(chǎn)品的測(cè)試至關(guān)重要?,F(xiàn)代溫度沖擊試驗(yàn)箱通常配備好的溫度控制系統(tǒng),能夠在±0.5°C到±2°C的溫度波動(dòng)范圍內(nèi)精確控制溫度,確保測(cè)試結(jié)果的準(zhǔn)確性。
長(zhǎng)時(shí)間循環(huán)測(cè)試:對(duì)于電子產(chǎn)品,長(zhǎng)時(shí)間的溫度沖擊循環(huán)測(cè)試非常重要,因?yàn)檫@些產(chǎn)品可能在實(shí)際使用過程中經(jīng)常經(jīng)歷溫度變化。因此,溫度沖擊試驗(yàn)箱能夠支持2000次以上的溫度循環(huán)測(cè)試,幫助企業(yè)驗(yàn)證產(chǎn)品在長(zhǎng)期使用中的可靠性。
數(shù)據(jù)記錄與分析功能:現(xiàn)代溫度沖擊試驗(yàn)箱通常配備數(shù)據(jù)記錄和分析功能,能夠記錄測(cè)試過程中的溫度變化曲線和相關(guān)數(shù)據(jù),方便后期分析和改進(jìn)設(shè)計(jì)。
電子行業(yè) 溫度沖擊試驗(yàn)箱的應(yīng)用場(chǎng)景
消費(fèi)電子:
智能手機(jī)、平板電腦、筆記本電腦等消費(fèi)電子產(chǎn)品在日常使用中會(huì)面臨環(huán)境溫度的變化。溫度沖擊試驗(yàn)可以驗(yàn)證這些設(shè)備在不同溫度條件下的穩(wěn)定性和耐用性,確保產(chǎn)品在寒冷或炎熱環(huán)境下正常工作。
汽車電子:
隨著電動(dòng)汽車和智能汽車的普及,車載電子系統(tǒng)的溫度沖擊測(cè)試變得尤為重要。車載電子設(shè)備,如車載娛樂系統(tǒng)、傳感器、控制單元等,都需要經(jīng)歷廣泛的溫度變化測(cè)試,確保其在各種氣候條件下的可靠性。
通信設(shè)備:
通信設(shè)備如基站、路由器、交換機(jī)等通常需要在室外或高溫、低溫環(huán)境中工作。溫度沖擊試驗(yàn)?zāi)軌驇椭鷾y(cè)試這些設(shè)備在惡劣溫度下的適應(yīng)能力和工作穩(wěn)定性。
JUN用電子設(shè)備:
JUN用電子設(shè)備必須在惡劣溫度環(huán)境下保持良好的性能,包括極熱和極寒的環(huán)境。通過溫度沖擊試驗(yàn)箱進(jìn)行嚴(yán)格的測(cè)試,可以確保這些設(shè)備在各種氣候條件下的可靠性。
醫(yī)療電子產(chǎn)品:
醫(yī)療電子設(shè)備,如監(jiān)護(hù)儀、呼吸機(jī)、診斷儀器等,常常在特殊環(huán)境下工作。溫度沖擊試驗(yàn)可確保這些設(shè)備在醫(yī)療場(chǎng)所或運(yùn)輸過程中受到溫度變化的影響時(shí)仍能正常運(yùn)行。
選擇電子行業(yè) 溫度沖擊試驗(yàn)箱時(shí)的考慮因素
測(cè)試范圍與需求:根據(jù)需要測(cè)試的電子產(chǎn)品的溫度范圍和工作環(huán)境,選擇合適的溫度沖擊試驗(yàn)箱。如果測(cè)試的是耐高溫產(chǎn)品,需要選擇溫度范圍更寬的設(shè)備。
控制系統(tǒng):精確的溫控系統(tǒng)對(duì)于測(cè)試結(jié)果至關(guān)重要。選擇具有高精度控制系統(tǒng)的試驗(yàn)箱,以確保溫度波動(dòng)在可接受的范圍內(nèi)。
箱體設(shè)計(jì)與空間:根據(jù)電子產(chǎn)品的尺寸和測(cè)試需求,選擇合適尺寸的試驗(yàn)箱。對(duì)于大尺寸電子設(shè)備,可能需要選擇更大測(cè)試空間的型號(hào)。
循環(huán)次數(shù)與耐久性:根據(jù)測(cè)試需求,選擇具有高循環(huán)次數(shù)和長(zhǎng)期穩(wěn)定性的試驗(yàn)箱。尤其是對(duì)于那些需要長(zhǎng)時(shí)間溫度沖擊測(cè)試的產(chǎn)品,設(shè)備的耐用性非常重要。
標(biāo)準(zhǔn)符合性:確保所選設(shè)備符合相關(guān)的國(guó)際標(biāo)準(zhǔn),如IEC 60068-2-14、MIL-STD-810等,以便進(jìn)行標(biāo)準(zhǔn)化測(cè)試。
總結(jié)
電子行業(yè)溫度沖擊試驗(yàn)箱對(duì)于驗(yàn)證電子產(chǎn)品在惡劣溫度變化下的性能和可靠性至關(guān)重要。通過對(duì)產(chǎn)品進(jìn)行高低溫交替變化的模擬測(cè)試,可以幫助企業(yè)改進(jìn)設(shè)計(jì)、提高質(zhì)量,并確保其產(chǎn)品能夠在實(shí)際使用中承受溫度波動(dòng)的考驗(yàn)。