用于故障分析和大型樣品研究的納米計(jì)量工具
作為一款缺陷形貌分析的精密測(cè)量?jī)x器，其主要目的是對(duì)樣品進(jìn)行缺陷檢測(cè)。而儀器所提供的數(shù)據(jù)不能允許任何錯(cuò)誤的存在。Park NX20，這款精密的大型樣品原子力顯微鏡，憑借著出色的數(shù)據(jù)準(zhǔn)確性，在半導(dǎo)體和超平樣品行業(yè)中大受贊揚(yáng)。
大全面的分析功能
Park NX20具備無(wú)二的功能，可快速幫助客戶找到產(chǎn)品失效的原因，并幫助客戶制定出更多具有創(chuàng)意的解決方案。的精密度為您帶來(lái)高分辨率數(shù)據(jù)，讓您能夠更加專注于工作。與此同時(shí)，真正非接觸掃描模式讓探針更鋒利、更耐用，無(wú)需為頻繁更換探針而耗費(fèi)大量的時(shí)間和金錢(qián)。。
即便是次接觸原子顯微鏡的工程師也易于操作
ParkNX20擁有業(yè)界便捷的設(shè)計(jì)和自動(dòng)界面，讓你在使用時(shí)無(wú)需花費(fèi)大量的時(shí)間和精力，也不用為此而時(shí)時(shí)不停的指導(dǎo)初學(xué)者。借助這一系列特點(diǎn)，您可以更加專注于解決更為重大的問(wèn)題，并為客戶提供及時(shí)且富有洞察力的失效分析報(bào)告。
為FA和研究實(shí)驗(yàn)室提供精確的形貌測(cè)量解決方案
樣品側(cè)壁三維結(jié)構(gòu)測(cè)量
NX20的創(chuàng)新架構(gòu)讓您可以檢測(cè)樣品的側(cè)壁和表面，并測(cè)量它們的角度。眾多的功能和用途正是您的創(chuàng)新性研究和敏銳洞察力所的。
對(duì)樣品和基片進(jìn)行表面光潔度測(cè)量
高分辨率電子掃描模式
QuickStep SCM
的掃描式電容顯微鏡
PinPoint AFM
無(wú)摩擦導(dǎo)電原子力顯微鏡
多種的技術(shù)幫助顧客減少測(cè)試時(shí)間
CrN樣品所做的針尖磨損實(shí)驗(yàn)
- 通過(guò)對(duì)比重復(fù)掃描情況下探針的形狀變化，您可以輕易看到Park的真正非接觸模式的優(yōu)勢(shì)所在。
AFM測(cè)量
- 借助真正非接觸模式，探針在掃描氮化鉻樣品（即探針檢測(cè)樣品）200次后仍可保持鋒利的狀態(tài)。氮化鉻的表面粗糙且研磨性強(qiáng)，會(huì)讓普通的探針很快變鈍。
低噪聲Z探測(cè)器測(cè)量準(zhǔn)確的樣品表面形貌
沒(méi)有壓電蠕變誤差的真正樣品表面形貌
超低噪聲Z探測(cè)器，噪音水平低于0.02 nm,從而達(dá)到非常精準(zhǔn)樣品形貌成像，沒(méi)有邊沿過(guò)沖無(wú)需校準(zhǔn)。Park NX20在為您提供好的數(shù)據(jù)的同時(shí)也為您節(jié)省了寶貴的時(shí)間。
- 使用低噪聲Z探測(cè)器信號(hào)進(jìn)行臺(tái)階形貌測(cè)量。
- 在大范圍掃描過(guò)程中系統(tǒng)Z向噪音小于0.02 nm。
- 沒(méi)有前沿或后沿過(guò)沖現(xiàn)象
- 終身無(wú)需校準(zhǔn)，減少設(shè)備維護(hù)成本
Park NX系列原子力顯微鏡
傳統(tǒng)的原子力顯微鏡
