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廣電計量檢測集團股份有限公司

半導體測試高低溫沖擊試驗箱

參考價68500.00
具體成交價以合同協(xié)議為準
  • 公司名稱湖北高天試驗設備有限公司
  • 品       牌高天
  • 型       號
  • 所  在  地武漢市
  • 廠商性質生產(chǎn)廠家
  • 更新時間2025/5/14 16:01:47
  • 訪問次數(shù)1097
規(guī)格
GT-TC-8068500.00元200 臺可售
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湖北高天試驗設備公司生產(chǎn)銷售產(chǎn)品:

 環(huán)境類檢測設備:
恒溫恒濕試驗箱,濕熱試驗箱,恒溫恒濕試驗機,高低溫交變濕熱試驗箱,調溫調濕試驗箱,高低溫試驗箱,三綜合試驗箱,高低溫交變濕熱試驗箱,步入式恒溫恒濕房,高溫老化房,各種精密烤箱,冷熱沖擊試驗箱,鹽霧試驗箱,淋雨試驗箱,砂塵試驗箱,耐黃變試驗箱,日照試驗箱,紫外老化試驗箱,氙燈耐氣候試驗箱,臭氧老化試驗箱,環(huán)境試驗箱等。


材料力學類檢測設備:
拉力試驗機,微機控制材料試驗機,跌落試驗機(雙翼、單翼、機跌落),振動試驗機,線材彎折試驗機,插拔壽命試驗機,破裂強度試驗機,紙箱耐壓試驗機,紙箱抗壓試驗機,環(huán)壓強度試驗機等。

 
光學檢測設備:
二次元影像測量儀 三坐標 

 

 

 

恒溫恒濕試驗箱,高低溫試驗箱,冷熱沖擊試驗箱,高溫試驗箱,鹽霧試驗箱,模擬運輸振動臺,破裂強度試驗機,紙箱抗壓試驗機,搖擺測試機
產(chǎn)地 國產(chǎn)
半導體測試高低溫沖擊試驗箱又名冷熱沖擊機、高低溫沖擊試驗機、冷熱沖擊試驗機等。用于電子電器零組件、自動化零部件、汽車配件、金屬、塑膠等行業(yè)。測試其材料對高低溫反復抵拉力以及產(chǎn)品對其產(chǎn)品及材料進行高溫與低溫之間的瞬間變化環(huán)境下檢驗其各項性能指標。應用于消費性電子工業(yè),光電產(chǎn)業(yè),生物科技,學術研究單位,半導體工業(yè),通訊工業(yè),汽車工業(yè),資訊工業(yè)。
半導體測試高低溫沖擊試驗箱 產(chǎn)品信息

  半導體測試高低溫沖擊試驗箱又名冷熱沖擊機、高低溫沖擊試驗機、冷熱沖擊試驗機等。用于電子電器零組件、自動化零部件、汽車配件、金屬、塑膠等行業(yè)。測試其材料對高低溫反復抵拉力以及產(chǎn)品對其產(chǎn)品及材料進行高溫與低溫之間的瞬間變化環(huán)境下檢驗其各項性能指標。應用于消費性電子工業(yè),光電產(chǎn)業(yè),生物科技,學術研究單位,半導體工業(yè),通訊工業(yè),汽車工業(yè),資訊工業(yè)。

半導體測試高低溫沖擊試驗箱

一、性能特點:

三箱設備區(qū)分為:高溫區(qū)、低溫區(qū)、測試區(qū)三部分,測試產(chǎn)品置于測試區(qū),沖擊時高溫區(qū)或低溫區(qū)的溫度沖入測試區(qū)進行沖擊, 測試產(chǎn)品為靜態(tài)式。

1、采用觸控式圖控操作介面,操作筒易;

2、沖擊方式應用風路切換方式將溫度導入測試區(qū),做冷熱沖擊測試;

3、高溫沖擊或低溫沖擊時,zui大時間可達999H,zui大循環(huán)周期可達9999次;

4、系統(tǒng)可作自動循環(huán)衙擎或手動選擇性沖擊并可設定二區(qū)或三區(qū)沖擊及冷沖熱沖啟始;

5、冷卻采二元冷凍系統(tǒng),降溫效果快速,冷卻方式為水冷式;

6、可以試驗沖擊常溫執(zhí)行滿足標準及試驗方法: GJB150.5 溫度沖擊試驗;GJB360.7溫度沖擊試驗;GB/2423.22 溫度沖擊試驗。

半導體測試高低溫沖擊試驗箱

半導體測試高低溫沖擊試驗箱

二、系統(tǒng)控制:

 1、制冷系統(tǒng):全封閉壓縮機所組成的二元復疊式風冷制冷系統(tǒng),風冷式盤管冷凝器、鰭片式多段式蒸發(fā)器,主要制冷配件及控制器件均采用原件;

 2、電器控制系統(tǒng):電氣控制部分采用“施耐德”交流接觸器,熱繼電器,質量可靠;

 3、安全保護系統(tǒng):超溫報警,線路保險絲及全護套式端子,欠相缺相保護,快速熔斷器,壓縮機高低壓、過熱、過電流保護、缺氣保護,過電流保護,接地保護。

三、安全功能

 1、溫度偏高、偏低和超溫報警;

 2、 壓縮機過熱、過流、過載保護,風機過熱保護等;

 3、獨立限溫報警系統(tǒng),超過限制溫度即自動中斷運行,并聲光報警提示操作者。保證實驗安全運行不發(fā)生意外。

四、滿足標準:

 1、GJB150.5A溫度沖擊試驗;

 2、GB/2423.13-2002溫度沖擊試驗;

 3、GJB360B 溫度沖擊試驗;

 4、GBT10589-2008低溫試驗箱技術條優(yōu)缺點。

五、 半導體測試沖擊試驗箱技術參數(shù):

溫度沖擊范圍

高溫60℃~+150℃

低溫-40℃~-10℃

預熱溫度范圍

60℃ ~ +180℃

高溫槽升溫時間

RT(室溫)~  +180℃≤40min(室溫在+10~+30℃時)

預冷溫度范圍

10℃~-55℃

低溫槽降溫時間

RT(室溫)~ -55℃≤35min(室溫在+10-- +30℃時)

溫度波動度

±1.0℃

溫度均勻度

±2.0℃

轉換時間

≤8S

沖擊歸復穩(wěn)定時間

40-- +150℃為5min內.

 

 

 

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