CMI900英國進(jìn)口牛津膜厚儀電渦流測量原理
高頻交流信號在測頭線圈中產(chǎn)生電磁場，測頭靠近導(dǎo)體時，就在其中形成渦流。測頭離導(dǎo)電基越近，則渦流愈大，反射阻抗也愈大。這個反饋?zhàn)饔昧勘碚髁藴y頭與導(dǎo)電基體之間距離的大小，也就是導(dǎo)電基體上非導(dǎo)電覆層厚度的大小。由于這類測頭專門測量非鐵磁金屬基材上的覆層厚度，所以通常稱之為非磁性測頭。非磁性測頭采用高頻材料做線圈鐵芯，例如鉑鎳合金或其它新材料。與磁感應(yīng)原理比較，主要區(qū)別是測頭不同，信號的頻率不同，信號的大小、標(biāo)度關(guān)系不同。與磁感應(yīng)測厚儀一樣，渦流測厚儀也達(dá)到了分辨率0.1um，允許誤差1%，量程10mm的高水平。采用電渦流原理的測厚儀，原則上對所有導(dǎo)電體上的非導(dǎo)電體覆層均可測量，如航天航空器表面、車輛、家電、鋁合金門窗及其它鋁制品表面的漆，塑料涂層及陽極氧化膜。覆層材料有一定的導(dǎo)電性，通過校準(zhǔn)同樣也可測量，但要求兩者的導(dǎo)電率之比至少相差3-5倍（如銅上鍍鉻）。雖然鋼鐵基體亦為導(dǎo)電體，但這類任務(wù)還是采用磁性原理測量較為合適
CMI900英國進(jìn)口牛津膜厚儀測量原理
采用磁感應(yīng)原理時，利用從測頭經(jīng)過非鐵磁覆層而流入鐵磁基體的磁通的大小，磁感應(yīng)膜厚儀
來測定覆層厚度。也可以測定與之對應(yīng)的磁阻的大小，來表示其覆層厚度。覆層越厚，則磁阻越大，磁通越小。利用磁感應(yīng)原理的測厚儀，原則上可以有導(dǎo)磁基體上的非導(dǎo)磁覆層厚度。一般要求基材導(dǎo)磁率在500以上。如果覆層材料也有磁性，則要求與基材的導(dǎo)磁率之差足夠大（如鋼上鍍鎳）。當(dāng)軟芯上繞著線圈的測頭放在被測樣本上時，儀器自動輸出測試電流或測試信號。早期的產(chǎn)品采用指針式表頭，測量感應(yīng)電動勢的大小，儀器將該信號放大后來指示覆層厚度。近年來的電路設(shè)計引入穩(wěn)頻、鎖相、溫度補(bǔ)償?shù)鹊匦录夹g(shù)，利用磁阻來調(diào)制測量信號。還采用設(shè)計的集成電路，引入微機(jī)，使測量精度和重現(xiàn)性有了大幅度的提高（幾乎達(dá)一個數(shù)量級）?，F(xiàn)代的磁感應(yīng)測厚儀，分辨率達(dá)到0.1um，允許誤差達(dá)1%，量程達(dá)10mm。磁性原理測厚儀可應(yīng)用來精確測量鋼鐵表面的油漆層，瓷、搪瓷防護(hù)層，塑料、橡膠覆層，包括鎳鉻在內(nèi)的各種有色金屬電鍍層，以及化工石油待業(yè)的各種防腐涂層。
CMI900英國進(jìn)口牛津膜厚儀使用須知
1.在使用膜厚計前，請閱讀操作安全須知及使用手冊
2.請勿將膜厚計靠近任何產(chǎn)生強(qiáng)力磁場或者靜電場的裝置，此舉可能會導(dǎo)致膜厚計故障。
3.請勿暴露于腐蝕性或者可燃性氣體下使用膜厚計。此舉可能會破壞沒偶后繼或者產(chǎn)生爆炸。
4.請勿在直接收到日光照射或者結(jié)露的環(huán)境下使用膜厚計，此舉可能會導(dǎo)致膜厚計發(fā)生變形或者絕緣層杯破壞，或者導(dǎo)致膜厚計特性超出規(guī)格。
5.一點(diǎn)校正：必須在每次量測時實(shí)行此動作
6.兩點(diǎn)校正：建議在常用測試點(diǎn)實(shí)行此動作以增加量測的準(zhǔn)確性。
CMI900英國進(jìn)口牛津膜厚儀操作說明
開機(jī)與關(guān)機(jī)
1.確保膜厚計感應(yīng)器前端遠(yuǎn)離任何的底材或者磁場
2.壓下扳手直至畫面有顯示后放開扳手，等待畫面顯示“um”或“mils”及HOLD后才可量測。
3.自動電源關(guān)閉功能（APO）：15秒沒有任何操作膜厚計動作的話，膜厚計電源將會自動關(guān)閉以延長電池壽命。
CMI900英國進(jìn)口牛津膜厚儀
膜厚儀又叫膜厚計、膜厚測試儀，分為磁感應(yīng)鍍層測厚儀，電渦流鍍層測厚儀，熒光X射線儀鍍層測厚儀。采用磁感應(yīng)原理時，利用從測頭經(jīng)過非鐵磁覆層而流入鐵磁基體的磁通的大小，來測定覆層厚度。也可以測定與之對應(yīng)的磁阻的大小，來表示其覆層厚度。
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