產(chǎn)品簡(jiǎn)介:
高純鍺探測(cè)器是近年來發(fā)展極為迅速的一種探測(cè)器類型?;驹硎菍⑤椛淠芰客ㄟ^高純鍺晶體進(jìn)行吸收,當(dāng)射線與高純鍺晶體發(fā)生相互作用時(shí)將產(chǎn)生電子——空穴對(duì)。由于電子——空穴對(duì)的能量較低,所以該種探測(cè)器具有能量分辨率高且線性范圍寬等優(yōu)點(diǎn)。
高純鍺探測(cè)器:
“優(yōu)化P型”高純鍺探測(cè)器:GEM-S/GEM-C/GEM-SP
- 提供三個(gè)具有較強(qiáng)針對(duì)性的優(yōu)化型探測(cè)器;
- 性能指標(biāo)上綜合了傳統(tǒng)GEM與GMX探測(cè)器的優(yōu)勢(shì);能量下限將至3keV;分辨率優(yōu)異;中低能段效率顯著提升;
- 采用超薄可靠接觸極;在常溫下保存不會(huì)破壞探測(cè)器性能;
- 嚴(yán)格保證效率、分辨率、峰形與峰康比等指標(biāo),保證探測(cè)器晶體生長質(zhì)量;
- 以晶體尺寸定義其型號(hào),同一型號(hào)的探測(cè)器采用相同的晶體結(jié)構(gòu)和尺寸,從而保證了相當(dāng)一致的效率曲線。
ORTEC數(shù)字化譜儀的基本特征:
- 一切控制與參數(shù)設(shè)置由計(jì)算機(jī)進(jìn)行;
- 數(shù)據(jù)通過率:大于100kcps(DSPEC-Pro大于130kcps);
- 數(shù)字化穩(wěn)譜、數(shù)字化自動(dòng)極零、自動(dòng)優(yōu)化、內(nèi)置虛擬示波器和數(shù)字化門控基線恢復(fù)等功能;
- 用戶可結(jié)合軟件預(yù)置多個(gè)核素的MDA,在所以MDA滿足時(shí)自動(dòng)終止計(jì)數(shù);統(tǒng)一的即插即用式背面板接口,與DIM / Smart-1匹配,相互間具有良好的互換性與兼容性;