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phoenix v|tome|x L 300 CT檢測系統(tǒng)

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公司名稱上海玖橫儀器有限公司
品牌
型號phoenix v|
所在地上海市
廠商性質(zhì)經(jīng)銷商
更新時(shí)間2024/4/19 13:22:26
訪問次數(shù)199

產(chǎn)品標(biāo)簽:

phoenix v|tome|x L 3

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上海玖橫儀器有限公司是一家專業(yè)從事儀器儀表研發(fā)、生產(chǎn)、銷售及服務(wù)的企業(yè)。超聲波探傷儀：（EPOCH 600超聲探傷儀、EPOCH 6LT超聲探傷儀、EPOCH 650超聲探傷儀、EPOCH 1000超聲探傷儀、USM 36超聲探傷儀、USN 60超聲探傷儀、USM go 超聲探傷儀、Ominscan SX相控陣探傷儀、OmniScan MX2相控陣TOFD探傷儀）；超聲波測厚儀：（27MG超聲波測厚儀、45MG超聲波測厚儀、38DL PLUS超聲波測厚儀、DM5E超聲波測厚儀、CL5超聲波測厚儀、MAGNA-MIKE 8600霍爾效應(yīng)測厚儀，ETG-100電磁高溫測厚儀）；超聲波探頭；定制相控陣探頭；渦流探傷儀：（NORTEC 600渦流探傷儀）；硬度計(jì)；內(nèi)窺鏡：（IPLEX NX奧林巴斯內(nèi)窺鏡、IPLEX GX/GT奧林巴斯內(nèi)窺鏡、IPLEX G Lite奧林巴斯內(nèi)窺鏡、IPLEX TX奧林巴斯內(nèi)窺鏡、IPLEX YS奧林巴斯內(nèi)窺鏡、XLGo 工業(yè)視頻內(nèi)窺鏡GE、XL Detect 工業(yè)視頻內(nèi)窺鏡GE新款、UVin專業(yè)紫外視頻內(nèi)窺鏡、）；脈沖發(fā)生器：（DRP300替代奧林巴斯的5072PR,5073PR）；合金分析儀：(Vanta奧林巴斯手持式合金分析儀、DELTA Professional手持式合金分析儀奧林巴斯、DELTA Element手持式合金分析儀奧林巴斯)等儀器儀表，

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光譜儀，測厚儀，探傷儀

產(chǎn)品簡介在線詢價(jià)

phoenix v|tome|x L 300 CT檢測系統(tǒng)是多功能高分辨率微焦點(diǎn)系統(tǒng)，用于二維和三維計(jì)算機(jī)斷層掃描（micro ct）和二維無損X射線檢測。

phoenix v|tome|x L 300 CT檢測系統(tǒng) 產(chǎn)品信息

phoenix v|tome|x L 300 CT檢測系統(tǒng)是多功能高分辨率微焦點(diǎn)系統(tǒng)，用于二維和三維計(jì)算機(jī)斷層掃描(micro ct)和二維無損X射線檢測。它配備有一個(gè)單極300千伏/ 500 瓦的微聚焦源，確保了300千伏的世界上好的放大倍率。其基于花崗巖的操作可處理多達(dá)50千克，長600 毫米/ 直徑500毫米的大樣本且具有精度。該系統(tǒng)是一個(gè)用于無效和缺陷檢測和復(fù)合材料、鑄件和精密零件如注射噴口或渦輪葉片的三維測量（如*檢測）的*的解決方案。可選的高功率納米焦距X射線管可使 phoenix v|tome|x L 300適應(yīng)任何種類的工業(yè)和科學(xué)高分辨率CT應(yīng)用。

phoenix v|tome|x L 300 CT檢測系統(tǒng)

主要功能

因其單極300千伏的管設(shè)計(jì)（在焦點(diǎn)和樣本大小之間有5毫米的距離）,放大倍率可用于高吸收樣品的定量無損檢測
三維測量包用于空間測量，具有*精度，再現(xiàn)性和親和力
鋼鐵零件和大型鋁鑄件的故障檢測和可重現(xiàn)的三維測量
二維X射線檢測和三維計(jì)算機(jī)斷層掃描(micro ct and nano ct) 模式之間的輕松轉(zhuǎn)換可細(xì)化至1微米

顧客利益：

廣泛應(yīng)用于不同樣本而無需改變X射線管
通過高動態(tài)溫度穩(wěn)定的GE DXR數(shù)字探測器獲取的30 FPS（幀每秒）和菱形|窗口（可選）的快速CT采集和清晰的影像
通過 VELO | CT在幾秒鐘或幾分鐘內(nèi)（取決于體積大小）完成更快的三維CT重建
用點(diǎn)擊&測量|CT進(jìn)行高精度且可重現(xiàn)的三維測量，使用datos | X 2.0 - 在少于1小時(shí)之內(nèi)自動生成*檢測記錄是可能的
高達(dá)10倍的增加的燈絲壽命，通過長壽命的|燈絲（可選）確保了*穩(wěn)定性系統(tǒng)效率

三維計(jì)算機(jī)斷層掃描

工業(yè)X射線三維計(jì)算機(jī)斷層掃描(micro ct 與 nano ct) 的經(jīng)典應(yīng)用是對金屬和塑料鑄件的檢測和三維測量。然而， phoenix| X射線的高分辨率X射線技術(shù)開辟了在眾多領(lǐng)域的新應(yīng)用，如傳感器技術(shù)、電子、材料科學(xué)以及許多其他自然科學(xué)。

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渦輪葉片是復(fù)雜的高性能鑄件,要滿足高質(zhì)量和安全性的要求。 CT可進(jìn)行故障分析以及精確的三維測量（如壁厚）。

材料科學(xué)

高分辨率計(jì)算機(jī)斷層掃描(micro ct 與 nano ct)用于檢測材料、復(fù)合材料、燒結(jié)材料和陶瓷，但也用來對地質(zhì)或生物樣品進(jìn)行分析。材料分配、空隙率和裂縫在微觀分辨率上是三維可視的。

玻璃纖維復(fù)合材料的nanoCT ®：纖維氈（藍(lán)色）的纖維方向和基質(zhì)樹脂（橙色）會顯示出來。右邊: 樹脂內(nèi)的空洞會以暗腔出現(xiàn)。左邊：樹脂已淡出，以更好地使纖維氈可視化。氈內(nèi)的單根纖維是可見的。

傳感器和電氣工程

在傳感器和電子元件的檢測中，高分辨率X射線技術(shù)主要用于檢測和評估接觸點(diǎn)、接頭、箱子、絕緣子和裝配情況。它甚至可以檢測半導(dǎo)體元件和電子設(shè)備（焊點(diǎn)），而無需拆卸設(shè)備。

一個(gè)表達(dá)式探針（連接器端視圖）的微焦點(diǎn)計(jì)算機(jī)斷層掃描(micro ct)圖像顯示鉻鎳鐵合金保護(hù)套（黃色），包括激光焊接的接縫，壓接連接（藍(lán)色）和陶瓷的氧傳感器的觸點(diǎn)（藍(lán)/紅）。

測量

用X射線進(jìn)行的三維測量是可對復(fù)雜物體內(nèi)部進(jìn)行無損測量的技術(shù)。通過與傳統(tǒng)的觸覺坐標(biāo)測量技術(shù)的對比，對一個(gè)物體進(jìn)行計(jì)算機(jī)斷層掃描的同時(shí)可獲得所有的曲面點(diǎn) - 包括所有無法使用其他測量方法無損進(jìn)入的隱蔽形體，如底切。 v|tome|x s 有一個(gè)特殊的三維測量包，其中包含空間測量所需的所有工具，從校準(zhǔn)儀器到表面提取模塊,具有可能的精度，可再現(xiàn)且具有親和力. 除了二維壁厚測量，CT體數(shù)據(jù)可以快速方便地與CAD數(shù)據(jù)進(jìn)行比較，例如，分析完成元件，以確保其符合所有的規(guī)定尺寸。