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廣電計量檢測集團股份有限公司

PID操作軟件(PIDStudio)

參考價面議
具體成交價以合同協(xié)議為準
  • 公司名稱束蘊儀器(上海)有限公司
  • 品       牌
  • 型       號
  • 所  在  地
  • 廠商性質其他
  • 更新時間2024/4/2 17:43:42
  • 訪問次數(shù)120
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束蘊儀器(上海)有限公司自成立以來,憑借與德國布魯克(BRUKER)、國際衍射數(shù)據(jù)中心(ICDD)、德國Freiberg等國際實驗室分析儀器品牌的戰(zhàn)略合作,迅速成為業(yè)界儀器供應商。 我們擁有一支積極樂觀,正直誠信的年輕團隊,我們熱忱的信仰科學,相信科學技術能為我們的客戶帶來高品質的生活,為社會的進步起到積極的促進作用。 束蘊儀器為各類客戶提供優(yōu)質的實驗室和工業(yè)檢測儀器及過程控制設備,專業(yè)的應用支持及完善的售后服務,在中國大陸的諸多領域擁有大量用戶,如高校、科研院所、航空航天,政府組織、檢驗機構、及工業(yè)企業(yè)。產(chǎn)品覆蓋了醫(yī)藥、生物、材料、考古、電子、食品等各個行業(yè)。 公司的宗旨:為客戶量身打造的綜合解決方案,的技術支持和現(xiàn)場服務,優(yōu)質高效的客戶培訓,快速及時的售后服務。
PIDStudio是一個很的軟件,它非常容易操作和直觀,因為它根據(jù)我們用戶的反饋持續(xù)更新和改進。
PID操作軟件(PIDStudio) 產(chǎn)品信息

PIDStudio是一個很的軟件,它非常容易操作和直觀,因為它根據(jù)我們用戶的反饋持續(xù)更新和改進。


通過PIDStudio,可以輸出和比較多個測量的下列參數(shù):

●   并聯(lián)電阻

●   電導率

●   功率損耗

●   泄漏電流

●   溫度

●   濕度

●   高電壓

 

主要特點:

●   用戶結構

●   輸出功能

●   譜圖

●   通過和失敗標準

●   分析功能包

●   可控制任意數(shù)量的設備

 


參考文獻: cells  (1)K. Sporleder, V. Naumann, J. Bauer, S. Richter, A. H?hnel, S. Gro?er, M. Turek, C. Hagendorf, Local corrosion of silicon as root cause for potential induced  degradation at the rear side of bifacial PERC solar cells. physica status solidi (RRL)–Rapid Research Letters. 2019, doi 10.1002/pssr.201900163

(2)V. Naumann, K. Ilse, M. Pander, J. Tr?ndle, K. Sporleder, C. Hagendorf, Influence of soiling and moisture ingress on long term PID susceptibility of photovoltaic

modules, AIP Conference Proceedings 2147, 090005 (2019).

(3)K. Sporleder, V. Naumann, J. Bauer, S. Richter, A. H?hnel, S. Gro?er, M. Turek, C. Hagendorf, Root cause analysis on corrosive potential-induced degradation effects  at the rear side of bifacial silicon PERC solar cells, Solar Energy Materials and Solar Cells 201, 110062 (2019).

(4)K. Sporleder, V. Naumann, J. Bauer, S. Richter, A. H?hnel, S. Gro?er, M. Turek, C. Hagendorf, Microstructural Analysis of Local Silicon Corrosion of Bifacial Solar Cells

as Root Cause of Potential‐Induced Degradation at the Rear Side, Phys. Status Solidi A (2019), doi:10.1002/pssa.201900334.

(5)K. Sporleder, J. Bauer, S. Gro?er, S. Richter, A. H?hnel, M. Turek, V. Naumann, K. Ilse, C. Hagendorf, Potential-Induced Degradation of Bifacial PERC Solar Cells Under  Illumination, IEEE Journal of Photovoltaics 9 (6) 1522-1525, 2019.

(6)K. Sporleder, M. Turek, N. Schüler, V. Naumann, D. Hevisov, C. P?blau, S. Gro?er, H. Schulte-Huxel, J. Bauer, C. Hagendorf, Quick test for reversible and irreversible  PID of bifacial PERC solar cells, Solar Energy Materials and Solar Cells 219, 110755, 2021.

(7)K. Sporleder, V. Naumann, J. Bauer, D. Hevisov, M. Turek, and C. Hagendorf, Time-resolved Investigation of Transient Field Effect Passivation States during Potential  Induced Degradation and Recovery of Bifacial Silicon Solar Cells , Solar RRL, 2021, accepted.

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