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PID操作軟件（PIDStudio）

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公司名稱束蘊(yùn)儀器（上海）有限公司
品牌
型號
所在地
廠商性質(zhì)代理商
更新時(shí)間2024/4/2 17:35:24
訪問次數(shù)158

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蘊(yùn)儀器（上海）有限公司自成立以來，憑借與世界分析儀器廠商的戰(zhàn)略合作，迅速成長為科學(xué)儀器行業(yè)受尊敬的供應(yīng)商。束蘊(yùn)儀器擁有一支積極樂觀，正直誠信的年輕團(tuán)隊(duì)，我們熱忱的信仰科學(xué)，相信科學(xué)技術(shù)能為我們的客戶帶來高品質(zhì)的生活，為社會的進(jìn)步起到積極的促進(jìn)作用。束蘊(yùn)儀器為各類客戶提供優(yōu)質(zhì)的實(shí)驗(yàn)室和工業(yè)檢測儀器及過程控制設(shè)備。如高校、科研院所、政府組織、檢驗(yàn)機(jī)構(gòu)、及工業(yè)企業(yè)。產(chǎn)品覆蓋了醫(yī)藥、生物、材料、考古、電子、食品等各個(gè)行業(yè)。束蘊(yùn)儀器倡導(dǎo)熱情主動、正直誠信、健康快樂的生活方式，并努力使這里的每一個(gè)員工做秀的自己。束蘊(yùn)儀器，讓世界更清晰！主營儀器設(shè)備： -高分辨X射線顯微CT、多量程X射線納米CT -- 布魯克Bruker分銷商 -X射線衍射儀、X射線熒光光譜儀、紅外光譜儀-布魯克Bruker分銷商 -同位素質(zhì)譜儀--德國元素（Elementar)代理商 -元素分析儀、TOC總有機(jī)碳分析儀--德國元素（Elementar)代理商 -杜馬斯定氮分析儀--德國元素（Elementar)*代理商 -BPCL化學(xué)發(fā)光儀--微光科技華東區(qū)總代理 -提供實(shí)驗(yàn)室分析儀器解決方案

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顯微CT、X射線斷層掃描、Micro CT、TOC總有機(jī)碳分析儀、穩(wěn)定同位素、杜馬斯定氮儀、元素分析儀、布魯克代理商、德國元素代理、艾力蒙塔代理、上海顯微CT

產(chǎn)品簡介在線詢價(jià)

PIDStudio是一個(gè)很的軟件，它非常容易操作和直觀，因?yàn)樗鶕?jù)我們用戶的反饋持續(xù)更新和改進(jìn)。

PID操作軟件（PIDStudio）產(chǎn)品信息

PIDStudio是一個(gè)很的軟件，它非常容易操作和直觀，因?yàn)樗鶕?jù)我們用戶的反饋持續(xù)更新和改進(jìn)。

通過PIDStudio，可以輸出和比較多個(gè)測量的下列參數(shù)：

● 并聯(lián)電阻

● 電導(dǎo)率

● 功率損耗

● 泄漏電流

● 溫度

● 濕度

● 高電壓

主要特點(diǎn)：

● 用戶結(jié)構(gòu)

● 輸出功能

● 譜圖

● 通過和失敗標(biāo)準(zhǔn)

● 分析功能包

● 可控制任意數(shù)量的設(shè)備

參考文獻(xiàn)： cells (1)K. Sporleder, V. Naumann, J. Bauer, S. Richter, A. H?hnel, S. Gro?er, M. Turek, C. Hagendorf, Local corrosion of silicon as root cause for potential induced degradation at the rear side of bifacial PERC solar cells. physica status solidi (RRL)–Rapid Research Letters. 2019, doi 10.1002/pssr.201900163

(2)V. Naumann, K. Ilse, M. Pander, J. Tr?ndle, K. Sporleder, C. Hagendorf, Influence of soiling and moisture ingress on long term PID susceptibility of photovoltaic

modules, AIP Conference Proceedings 2147, 090005 (2019).

(3)K. Sporleder, V. Naumann, J. Bauer, S. Richter, A. H?hnel, S. Gro?er, M. Turek, C. Hagendorf, Root cause analysis on corrosive potential-induced degradation effects at the rear side of bifacial silicon PERC solar cells, Solar Energy Materials and Solar Cells 201, 110062 (2019).

(4)K. Sporleder, V. Naumann, J. Bauer, S. Richter, A. H?hnel, S. Gro?er, M. Turek, C. Hagendorf, Microstructural Analysis of Local Silicon Corrosion of Bifacial Solar Cells

as Root Cause of Potential‐Induced Degradation at the Rear Side, Phys. Status Solidi A (2019), doi:10.1002/pssa.201900334.

(5)K. Sporleder, J. Bauer, S. Gro?er, S. Richter, A. H?hnel, M. Turek, V. Naumann, K. Ilse, C. Hagendorf, Potential-Induced Degradation of Bifacial PERC Solar Cells Under Illumination, IEEE Journal of Photovoltaics 9 (6) 1522-1525, 2019.

(6)K. Sporleder, M. Turek, N. Schüler, V. Naumann, D. Hevisov, C. P?blau, S. Gro?er, H. Schulte-Huxel, J. Bauer, C. Hagendorf, Quick test for reversible and irreversible PID of bifacial PERC solar cells, Solar Energy Materials and Solar Cells 219, 110755, 2021.

(7)K. Sporleder, V. Naumann, J. Bauer, D. Hevisov, M. Turek, and C. Hagendorf, Time-resolved Investigation of Transient Field Effect Passivation States during Potential Induced Degradation and Recovery of Bifacial Silicon Solar Cells , Solar RRL, 2021, accepted.