NSG3040A是Teseq公司新推出的一臺用于在抗擾度測試中模擬電磁干擾影響的發(fā) 生器，它操作簡便、具有多種功能，滿足企業(yè)、國內和標準的要求（包括新的 EC/EN標準）。NSG3040A采用了新的Teseq設計理念，使得特測的多功能發(fā)生器產品系 列更加完整。這種創(chuàng)新的設計基于模塊化結構，因而提供了一個多功能測試系統(tǒng)。該系統(tǒng)可以按照基 本測試要求配置，也可擴展功能以滿足需求多樣的測試實驗室的要求。

      NSG3040A系統(tǒng)設計于滿足用于CE標志測試的傳導EMC測試需要，它一般包括組合 波、EFT脈沖和PQT。強大的擴展能力使得該系統(tǒng)具有更廣泛的應用范圍。成熟、的“主—從”概念技術使得單個脈沖模塊能夠獨立校準，并將校準資料和修 正系數(shù)存儲于從控制器上。新模塊安裝簡便，無需返回整個系統(tǒng)進行校準。

      由于采用技術的組件，NSG 3040A在開關切換技術和相位精度方面建立了新的標準， 并且超越了現(xiàn)行標準的要求。因為采用了具有高質、對比度佳的大型7”彩色觸摸板顯示，NSG3040A的操作非常簡 便。既可以通過一體化鍵盤也可以用帶有靈敏度調整鍵的滾輪來進行輸入。此外，在開 發(fā)環(huán)境下，通過內置的DTA功能（直接測試程序調用），幾個“點擊”就能激活標準測 試，并能迅速、準確地得到結論性結果。各參數(shù)值均為高度可視的，通過大的觸摸輸入鍵可以迅速選擇并修改這些參數(shù)值。該操 作不需要觸控筆，測試參數(shù)可以迅速、簡便地編輯出來?？梢院啽愕剡M行多步驟測試程 序的增加、程序次序及參數(shù)值的修改。

      選擇“高模式”后，用戶可以在測試中使用滾輪進行手動參數(shù)修改—有效、迅速地簡 化激活關鍵閾值的方法。

通過易操作的SD讀卡器可進行固件快速下載。可以完整的保存由用戶指*定的測試。在 存儲空間不夠的特殊情況下，可用市場購買的SD記憶卡更換該記憶卡，而存放其中的 測試文件可被輕松復制進更大內存的SD卡中。

      NSG3040A具有以太網端口，可接受來自個人電腦的外部控制。Windows軟件簡化了測試 程序并允許為各種類型的測試編寫復雜的測試序列。在測試進程中，操作人員可以進行 觀察并在測試操作中生成測試報告，以此增加長期測試的效率。

 模塊化、可擴展系統(tǒng)  

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