手持光譜儀是一種基于XRF(X Ray Fluorescence,X射線熒光)光譜分析技術(shù)的光譜分析儀器，主要由X光管、探測器、CPU以及存儲器組成，由于其便攜具有便攜、準(zhǔn)確等特點(diǎn)，使其在合金、礦石、環(huán)境、消費(fèi)品等領(lǐng)域有著重要的應(yīng)用。尤其適合于不銹鋼材料的牌號確認(rèn)以及定量測量元素。
手持式光譜儀是一種基于XRF光譜分析技術(shù)的光譜分析儀器，當(dāng)能量高于原子內(nèi)層電子結(jié)合能的高能X射線與原子發(fā)生碰撞時(shí),驅(qū)逐一個(gè)內(nèi)層電子從而出現(xiàn)一個(gè)空穴,使整個(gè)原子體系處于不穩(wěn)定的狀態(tài),當(dāng)較外層的電子躍遷到空穴時(shí),產(chǎn)生一次光電子，擊出的光子可能再次被吸收而逐出較外層的另一個(gè)次級光電子，發(fā)生俄歇效應(yīng),亦稱次級光電效應(yīng)或無效應(yīng)。所逐出的次級光電子稱為俄歇電子。當(dāng)較外層的電子躍入內(nèi)層空穴所釋放的能量不被原子內(nèi)吸收,而是以光子形式放出,便產(chǎn)生X 射線熒光，其能量等于兩能級之間的能量差。因此，射線熒光的能量或波長是特征性的,與元素有一一對應(yīng)的關(guān)系。由Moseley定律可知，只要測出熒光X射線的波長,可以知道元素的種類,這是熒光X射線定性分析的基礎(chǔ)。此外,熒光X射線的強(qiáng)度與相應(yīng)元素的含量有一定的關(guān)系,據(jù)此,可以進(jìn)行元素定量分析。X射線探測器將樣品元素的X射線的特征譜線的光信號轉(zhuǎn)換成易于測量的電信號來得到待測元素的特息。

儀器既可手持1-2秒對樣品進(jìn)行測試，也能使用座式對樣品進(jìn)行較長時(shí)間的精細(xì)測試，10秒即可進(jìn)行接近實(shí)驗(yàn)室精度的測量。 數(shù)據(jù)傳輸更加高速 采用嵌入式Windows CE系統(tǒng)，高顯示分辨率（640*480）液晶顯示觸摸屏，結(jié)合數(shù)字多道技術(shù)，采用SPI數(shù)據(jù)傳輸，有效提升數(shù)據(jù)傳輸能力與數(shù)據(jù)運(yùn)算能力。在任何環(huán)境中，測試數(shù)據(jù)都盡在掌中。 防護(hù)、關(guān)愛健康 三重防護(hù)功能，自動感應(yīng)，具有無樣品空測，2秒自動關(guān)X光管功能；工作時(shí)的水平遠(yuǎn)低于國際標(biāo)準(zhǔn)，無射線泄漏；加厚防護(hù)測試壁；配送測試防護(hù)罩。 電量強(qiáng)勁、充電方便。

手持式光譜儀設(shè)備維護(hù)與保養(yǎng)： 　　
1.手持式光譜儀使用過程中應(yīng)輕拿輕放，防止內(nèi)部零件受損。
 2.保持檢測口薄膜的清潔，檢測口薄膜被污染可能引起檢測誤差。檢測口薄膜破損繼續(xù)使用可能會造成手持式光譜儀的損壞。應(yīng)及時(shí)清潔或更換。 　　
3.被檢測物表面的氧化層和污染物等要用砂輪機(jī)或金剛砂去除，以免造成測量結(jié)果不準(zhǔn)確，被檢測物表面凹凸不平、有毛刺時(shí)應(yīng)在檢測時(shí)注意，防止手持式光譜儀檢測口薄膜損壞。檢測鍍件時(shí)，要將電鍍層去除。 　　
4.手持式光譜儀電池使用至10%時(shí)，應(yīng)更換電池，充電。

對于金屬制造行業(yè)來說 ,質(zhì)量控制和非常重要。材料檢驗(yàn)是確保金屬制品使用合格材質(zhì)的關(guān)鍵。如 果使用不合格的金屬合金,會引起災(zāi)難性事故,給企業(yè) 帶來巨大的經(jīng)濟(jì)損失。手持合金成分分析儀是檢測金屬材料是否合格的關(guān)鍵性手段。有了手持式合金分析儀，質(zhì)量控制以及檢測人員可以 在無損的條件下,每天地檢測上千個(gè)金屬合金樣 品。即使是普通工作人員也有把握地將大量的 樣 品 測 出 完 整 而 準(zhǔn)確 的 結(jié) 果 。測試時(shí)間是1~2秒,無需制備樣品,從金屬細(xì)絲到成品焊點(diǎn),螺釘, 金屬板 ——所有這些樣品都可以被手持分析儀檢測。
手持式光譜儀系統(tǒng)誤差的來源有： (1)標(biāo)樣和試樣中的含量和化學(xué)組成不相同時(shí)，可能引起基體線和分析線的強(qiáng)度改變，從而引入誤差。 (2)標(biāo)樣和試樣的物理性能不相同時(shí)，激發(fā)的特征譜線會有差別從而產(chǎn)生系統(tǒng)誤差。 (3)澆注狀態(tài)的鋼樣與經(jīng)過退火、淬火、回火、熱軋、鍛壓狀態(tài)的鋼樣金屬組織結(jié)構(gòu)不相同時(shí)，測出的數(shù)據(jù)會有所差別。 (4)未知元素譜線的重疊干擾。如熔煉過程中加入脫氧劑、除硫磷劑時(shí)，混入未知合金元素而引入系統(tǒng)誤差。 (5)要系統(tǒng)誤差，必須嚴(yán)格按照標(biāo)準(zhǔn)樣品制備規(guī)定要求。為了檢查系統(tǒng)誤差，需要采用化學(xué)分析方法分析多次校對結(jié)果。