日本nfcorp阻抗分析儀 ZA57630
從電子元件和半導(dǎo)體設(shè)備到材料表征，我們滿足各種阻抗測量需求
ZA57630是一款阻抗分析儀，基本精度為±0.08%，最大頻率為36 MHz。
它配備了多種功能，并支持廣泛的阻抗測量。
基本精度：±0.08%
頻率范圍：10 μHz ~ 36MHz
阻抗范圍：10μΩ ~ 100GΩ （外部擴(kuò)展測量模式）
測量的交流信號電平：0.01 毫伏方秒 ~ 3 毫磁振，0.1 微臂 ~ 60 毫安
直流偏置： -5 V ~ +5 V / -40 V ~ +40 V （>1 kHz）， -100 mA ~ +100 mA
測量時(shí)間：0.5 ms/點(diǎn)
測量參數(shù)： Z， R， X， Y， G， B， LS， LP， CS， CP， RS， RP， ΘZ， ΘY， D， DΕ， DΜ， Q， V， I， εs， εs′， εs“， μs， μs′， μs′， μs”， 頻率
高速測量 業(yè)界最快的 0.5 ms/點(diǎn)
實(shí)現(xiàn)了業(yè)界最快的0.5 ms/點(diǎn)。
縮短生產(chǎn)線的節(jié)拍時(shí)間，提高測量工作的效率。
此外，通過增加要設(shè)置的測量時(shí)間，可以平均測量結(jié)果并降低噪聲的影響。 您可以根據(jù)需要選擇測量時(shí)間。
4 種測量模式 廣泛的 DUT
標(biāo)準(zhǔn)測量模式 （IMPD-3T）
高頻測量模式 （IMPD-2T）
外部擴(kuò)展測量模式 （IMPD-EXT）
增益相位測量模式 （G-PH）
標(biāo)準(zhǔn)測量模式 （IMPD-3T）
一種可在寬頻率范圍內(nèi)實(shí)現(xiàn)高精度測量的模式。
測試引線和測試夾具可用于容納各種形狀的試樣形狀。
4 端子和 3 端子連接也很容易實(shí)現(xiàn)。
推薦頻段：10μHz~10MHz
推薦阻抗值：1Ω~10MΩ
高頻測量模式 （IMPD-2T）
可在 10 MHz 或更高的高頻下實(shí)現(xiàn)穩(wěn)定測量的模式。
推薦阻抗值：200mΩ~10kΩ
使用 N 型連接器的 2 端子連接
端口擴(kuò)展功能即使在待測樣品的接線較長的情況下也能實(shí)現(xiàn)穩(wěn)定的測量。 可有效集成到恒溫箱和檢測設(shè)備中。
外部擴(kuò)展測量模式 （IMPD-EXT）
通過使用施加高電壓/大電流信號的功率放大器和用于測量小信號的前置放大器，可以執(zhí)行僅靠該儀器無法處理的各種阻抗測量。
可測量阻抗范圍 10μΩ ~ 100GΩ
用于測量超過千兆Ω的絕緣材料以及毫米Ω和微Ω量級的電線和銅箔等材料。
從我們廣泛的放大器陣容中，我們可以提出與測量樣品相匹配的組合。
注意：可測量范圍受外部連接設(shè)備（如放大器）規(guī)格的限制。
增益相位測量模式 （G-PH）
一種可以測量傳輸特性的模式，例如濾波器和放大器。 將掃描信號施加到被測電路上，并以高精度測量其頻率響應(yīng)（增益、相位）。
頻段：10μHz~36MHz
測量精度：0.01 dB 增益，0.06° 相位
動(dòng)態(tài)范圍 110dB（典型值）
