SDD探測(cè)器的計(jì)數(shù)率和分辨率，遠(yuǎn)高于SI-PIN檢測(cè)技術(shù)，分析速度快了5倍。這意味著對(duì)所有元素檢測(cè)限更低，結(jié)合FP校準(zhǔn)模式，可檢測(cè)所有礦石樣品。
還可分析土壤、沉淀物、巖芯等樣品的化學(xué)成份。
可選臺(tái)式支架確保輻射安全，對(duì)特殊樣品（如袋裝的）進(jìn)行測(cè)量，以保護(hù)環(huán)境。
對(duì)礦石開發(fā)與含量分析進(jìn)行快速、準(zhǔn)確分析
野外操作時(shí)，自由攜帶，非常方便
重量 | 1.5kg | |
尺寸 | 30cm(L)x10cm(Wx 28cm(H) | |
激發(fā)源 | X射線管，Ag靶，40kV | |
檢測(cè)器 | XFlash®硅漂移檢測(cè)器(SDD), 檢測(cè)速度快； 能量分辨率高：145eV, 計(jì)數(shù)率：100 kcps | |
操作系統(tǒng) | HP掌上電腦：Windows 5.0 Bruker 專用軟件 | |
冷卻系統(tǒng) | Peltier半導(dǎo)體冷卻系統(tǒng) | |
電源 | 交、直流供電；2塊充電鋰電池，可連續(xù)工作8-12小時(shí) | |
工作條件 | 溫度：-20℃～+55℃ 濕度：0～95% | |
電池充電器 | 交流充電器：110/220V，50/60Hz | |
計(jì)算機(jī)/顯示器 | 240x320彩顯; 65,536像素; 背景光可調(diào); 觸摸屏 | |
測(cè)量模式 | 牌號(hào)識(shí)別、定量分析、顯示測(cè)量譜線、合格與否判定 | |
數(shù)據(jù)傳輸 | USB，無(wú)線藍(lán)牙，SD卡 | |
數(shù)據(jù)存儲(chǔ) | 主機(jī)：512MB 存儲(chǔ)卡：CF/SD卡，2GB，能存儲(chǔ)幾十萬(wàn)個(gè)光譜圖譜和測(cè)量數(shù)據(jù) | |
熱表面適配器 | 熱表面適配器，可測(cè)量500℃高溫樣品 | |
安全 | 密碼保護(hù)，設(shè)有多級(jí)安全鎖 | |
運(yùn)輸箱 | 減震、抗壓、防水、密封儀器箱 | |
支持語(yǔ)言 | 包括中、英文在內(nèi)12種語(yǔ)言(用戶自選) | |
質(zhì)保期 獲得認(rèn)證 | 整機(jī)2年 CE、TUV、IECEE、ISO9001 | |
