NTEGRA Spectra
是一款的集成了掃描探針顯微鏡、激光共聚焦/熒光顯微鏡和拉曼光譜儀的系統(tǒng)。其強大的TERS效應(yīng)，可在得到拉曼光譜的同時獲得高達50nm的成像分辨率。
只有NTEGRA Spectra能在軟件、硬件等技術(shù)方面為集成Renishaw的拉曼光譜系統(tǒng)提供的方案，以便用戶能在分子水平上用不同的技術(shù)手段來分析、研究樣品。這樣的集成，能讓用戶極大的提高工作效率，將更多的時間用于數(shù)據(jù)采集和分析，而無需為繁瑣的儀器操作而苦惱。所以，可以負責任的說：真正的集成是遠遠優(yōu)于簡單的組合的。
激光共聚焦顯微鏡/拉曼光譜儀系統(tǒng)
NTEGRA Spectra 系統(tǒng)集成了激光掃描共焦光譜儀、光學(xué)顯微鏡和常規(guī)的掃描探針顯微鏡。該系統(tǒng)能用于發(fā)光光譜和拉曼散射的三維成像、所有的SPM功能，包括納米壓痕、納米加工和納米刻蝕等
掃描探針顯微鏡
除了光學(xué)檢測外，NTEGRA Spectra還可使用SPM的方法來研究樣品，諸如：AFM、MFM、STM、SNOM、力譜等等。這樣的集成了光學(xué)方法和掃描探針方法合二為一的系統(tǒng)，為用戶完成復(fù)雜的實驗變成可能，用戶可從實驗中得到樣品的光學(xué)分布信息、化學(xué)性質(zhì)、力學(xué)性質(zhì)、電學(xué)性質(zhì)和磁學(xué)性質(zhì)等。
用超越激光衍射極限的系統(tǒng)來研究樣品
NTEGRA Spectra 在檢測樣品時，能提供超越激光光學(xué)衍射的光學(xué)分辨率。近場光學(xué)顯微鏡和TERS系統(tǒng)能讓用戶得到光學(xué)性質(zhì)分布圖（激光傳輸、散射和偏振等）的同時獲得拉曼散射光譜和高達50nm的XY方向分辨率。
技術(shù)參數(shù)：
共聚焦顯微鏡
光學(xué)模塊 正置或倒置光學(xué)顯微鏡觀測系統(tǒng)
可見光譜測量 (390-800nm)
激發(fā)光路中配置手動式格蘭-泰勒起偏棱鏡 390-1000nm
檢測光路中配置電動式格蘭-泰勒檢偏棱鏡 390-1000nm
三軸定位電動式1/2波片
光束分離器
可選配倏逝激發(fā)系統(tǒng)（用于TERS）
光學(xué)分辨率 XY： 200nm
Z：500nm
掃描模塊 樣品質(zhì)量：1000g
掃描范圍：100x100x25 um
XYZ三維全量程閉環(huán)控制掃描系統(tǒng)
XY方向非線性度： % （典型值）
Z方向噪音水平： XY方向噪音水平：共聚焦針孔 直徑0~可調(diào)，步進 um
注：無論樣品是否透明，都可用我們的共聚焦顯微鏡在空氣或液體環(huán)境中對其進行研究。
拉曼光譜儀
光譜儀焦長 520 mm
激光器波長* 441, 488, 514, 532, 633 nm
雜散光抑制 10-5，（20nm 用632nm激光器 ）
平場面積 28 mm x 10 mm
光譜分辨率 nm (1200 l/mm光柵 )
端口 1輸入，2輸出
光柵座 4孔轉(zhuǎn)盤（3 個光柵+“直接成像”模式用的反射鏡）
探測器 CCD：光譜響應(yīng)范圍：200–1000 nm，電冷裝置冷卻至–80°C，500nm時95% 量子效率
用于光子計數(shù)的APD 光譜相應(yīng)范圍：400–1000 nm，暗計數(shù)=25/秒，提供高達1GHz計算速度的PCI 卡。 * 標準配置中包括一套488 nm激光器，其他波長激光器可選配
可選配其他光柵。小階梯光柵具有的光譜分辨率
可選用PMT
掃描近場光學(xué)顯微鏡
功能模式：剪切力成像/SNOM反射模式，透射模式，熒光模式（選配）
激光模塊 耦合裝置：X-Y-Z 定位器，定位精度1 um
V型槽光纖固定器
裝配40x物鏡
光纖傳輸系統(tǒng) KineFlexTM
光束衰減器：可配多種減光鏡
剪切力成像 樣品尺寸：直徑100mm，厚度15mm
XY二維樣品移動平臺：樣品定位范圍5x5mm，樣品定位精度5um
XYZ三維全量程閉環(huán)控制掃描系統(tǒng)
樣品掃描式 針尖掃描式
掃描范圍 100x100x25 um 100x100x7 um
非線性度 XY %（典型值） 噪音水平 Z 噪音水平 XY 石英音叉基頻 190 kHz
光纖孔徑 可同時采集的數(shù)據(jù)通道 反射模式
透射模式/熒光模式
PMT 光譜響應(yīng)范圍：185-850 nm
靈敏度：3x1010，420 nm時
隔振系統(tǒng) 主動式： Hz
被動式：大于1 kHz
掃描探針顯微鏡
功能模式：AFM（接觸+半接觸+非接觸）/側(cè)向力模式/相位成像模式/力調(diào)制模式/粘滯力成像/磁力顯微鏡/靜電力顯微鏡/掃描電容顯微鏡/掃描開爾文探針顯微鏡/擴展電阻成像模式/刻蝕：AFM（力和電流）
樣品尺寸* 直徑100mm，厚度15mm
掃描范圍 50x50x5 um
閉環(huán)控制系統(tǒng) XYZ三維全量程閉環(huán)控制掃描系統(tǒng)，采用電容傳感器
非線性度 XY 噪音水平 Z nm（典型值），噪音水平 XY nm（典型值），*掃描頭部可單獨使用，此時對樣品尺寸和重量無限制
內(nèi)置的電容傳感器擁有極低的噪音水平，即使降到50x50 nm的區(qū)域也可以用閉環(huán)控制來掃描
主要特點：
AFM探針和激光光斑的同步協(xié)調(diào)。AFM探針可在納米級的精度上定位于激光光斑中—在TERS中，這是必要的條件。在激光掃描和樣品掃描的6個軸中，全部采用全量程閉環(huán)控制系統(tǒng)。
高數(shù)值孔徑的光學(xué)物鏡和SPM系統(tǒng)緊密的集成在一起，讓系統(tǒng)的光學(xué)穩(wěn)定性達到的高度—為長程和微弱的信號而設(shè)計。
反射模式的激光光路可用于激光共聚焦成像。
電冷至-70°C的CCD，用于光譜探測和成像。
也可選用APD來進行光子計數(shù)。
在激發(fā)通道和檢測通道中，用戶可靈活方便的配置偏光光路。
多功能的集成軟件控制系統(tǒng)，所有的系統(tǒng)模塊包括AFM、光路系統(tǒng)和機械系統(tǒng)都由統(tǒng)一的軟件來控制。激光器、光柵、針孔等等，都可由軟件來切換或調(diào)節(jié)。
NT-MDT可根據(jù)用戶需求定制不同使用需求的TERS系統(tǒng)。
