原子探針可為研究和工業(yè)領(lǐng)域提供常規(guī)的高性能三維納米分析。
基于原子探針斷層分析儀器和應(yīng)用領(lǐng)域30年的成功經(jīng)驗,CAMECA開發(fā)了EIKOS™原子探針顯微鏡,應(yīng)用于合金的快速研制和納米級材料研究。
EIKOS原子探針提供了:
具有納米級微觀結(jié)構(gòu)表征的三維層析成像
高效率的高空間分辨率單原子探測
對所有元素及其同位素的靈敏度一致
定量組分測量(亞納米至近微米級)
可提供電壓或電壓和激光配置
標(biāo)準(zhǔn)樣品制備方法
EIKOS可提供2種配置:
EIKOS
基礎(chǔ)EIKOS系統(tǒng)采用反射器設(shè)計,可提供出色的質(zhì)量分辨能力和信噪比。預(yù)先對準(zhǔn)的集成反電極確保易用性和高可靠性。電壓脈沖系統(tǒng)在各種冶金應(yīng)用中提供了非常高的數(shù)據(jù)質(zhì)量。
EIKOS-UV
配置的EIKOS-UV系統(tǒng)結(jié)合了基礎(chǔ)EIKOS(電壓脈沖,基于反射功能,預(yù)對準(zhǔn)反電極)的所有突出特性,并增加了一個集成的激光脈沖模塊和計算機控制的焦斑設(shè)計,以適用于更大的應(yīng)用范圍。
基礎(chǔ)EIKOS系統(tǒng)可現(xiàn)場升級至EIKOS-UV。