TG-61320C兩箱式冷熱沖擊試驗(yàn)箱儀器設(shè)備用途：

冷熱沖擊試驗(yàn)箱根據(jù)待測(cè)試樣的特殊性，分為兩箱式幼態(tài)沖擊和三箱式靜態(tài)沖擊，本產(chǎn)品既可作冷熱沖擊實(shí)驗(yàn)，也可以做單獨(dú)高溫或單獨(dú)低溫使用。廣泛使用于航空航天、電工電子、儀器儀表、材料設(shè)備、零部配件等模擬試件在周?chē)髿鉁囟燃眲∽兓瘲l件下的適應(yīng)性試驗(yàn)及對(duì)電子元器件的安全性測(cè)試提供可靠性試驗(yàn)、產(chǎn)品篩選等，同時(shí)可通過(guò)此試驗(yàn)，進(jìn)行產(chǎn)品的質(zhì)量控制。

TG-61320C兩箱式冷熱沖擊試驗(yàn)箱產(chǎn)品特點(diǎn)：

1： 泰規(guī)儀器生產(chǎn)的新一代冷熱沖擊試驗(yàn)箱（2箱），箱體結(jié)構(gòu)、制冷系統(tǒng)、控制技術(shù)均有較大的技術(shù)改革，運(yùn)行更可靠，維護(hù)更方便。

2：制冷機(jī)采用原裝進(jìn)口“泰康”或“ 比澤爾”。

3：控制系統(tǒng)采用彩色觸摸屏中英文顯示按鍵式操作，外觀更加簡(jiǎn)單大方，操作設(shè)定簡(jiǎn)單。

4：提籃在高低溫室內(nèi)切換轉(zhuǎn)移，采用氣動(dòng)控制，轉(zhuǎn)換時(shí)間短，溫度恢復(fù)時(shí)間短，溫變速度快，設(shè)備整體結(jié)構(gòu)緊湊，體積小，采用兩箱法，提高了工作室的溫度均勻程但試件一直處于動(dòng)態(tài)，工作室不能留有測(cè)試孔，因此不能帶電、帶信號(hào)、帶氣源測(cè)試。

5：高低溫沖擊試驗(yàn)箱配備: SD卡儲(chǔ)存，USB輸出，電腦連接打印，大艙有紙無(wú)紙記錄等選配。

6：箱體加工采用數(shù)控機(jī)床加工成型，造型美觀大方，并采用無(wú)反作用把手，操作簡(jiǎn)便。殼體采用優(yōu)質(zhì)碳素鋼板.磷化靜電噴塑處理或（選配）SUS304不銹鋼霧面線條發(fā)紋處理，內(nèi)部材質(zhì)均采用SU304高級(jí)不銹鋼材質(zhì)。

7：冷熱沖擊試驗(yàn)箱配備大型觀測(cè)視窗附國(guó)際品牌照明燈保持箱內(nèi)明亮，且利用發(fā)熱體內(nèi)嵌式鋼化玻璃，隨時(shí)清晰的觀測(cè)箱內(nèi)狀況。

TG-61320C兩箱式冷熱沖擊試驗(yàn)箱適用于標(biāo)準(zhǔn):

1：GB/T 10592-2008 高低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件；

2：GB/T 2423.1-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)A：低溫 (IEC 60068-2-1:2007, IDT)；

3：GB/T 2423.2-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)B：高溫 (IEC 60068-2-2:2007, IDT)；

4：GB/T 2423.22-2012 環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)N：溫度變化 (IEC 60068-2-14:2009, IDT)；:

5：GJB/T 150.5-86 設(shè)備環(huán)境試驗(yàn)方法 第5部分 溫度沖擊試驗(yàn)。

6：GB11158-2008高溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件:

7：GB10589-2008低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件

8：GB10592-2008高低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件（溫度交變）

9：GJB150.3A-2009裝備實(shí)驗(yàn)室環(huán)境實(shí)驗(yàn)方法第3部分：高溫實(shí)驗(yàn)

10：GJB150.4A-2009裝備實(shí)驗(yàn)室環(huán)境實(shí)驗(yàn)方法第3部分：低溫實(shí)驗(yàn)

TG-61320C兩箱式冷熱沖擊試驗(yàn)箱技術(shù)參數(shù)：