?采用顆粒云（所有散射光面積）和單顆粒監(jiān)測(cè)相結(jié)合的技術(shù)完成不同粒徑段質(zhì)量濃度的測(cè)試

?對(duì)不同粒徑段粒子質(zhì)量濃度的測(cè)量技術(shù)優(yōu)于通用的光度計(jì)和光學(xué)粒子計(jì)數(shù)器 (OPC)
?它同時(shí)給出了通用光度計(jì)能夠測(cè)量的質(zhì)量濃度和計(jì)數(shù)器給出的粒徑分布
?tsi8533光度計(jì)可以用來(lái)測(cè)量很高的質(zhì)量濃度，但是它們不能給出任何粒徑的信息，但是明顯的低估了大顆粒的質(zhì)量濃度
?光學(xué)粒子計(jì)數(shù)器可以提供粒徑和數(shù)量信息，但是，他們不能夠給出任何質(zhì)量濃度的信息，并且不能用在高濃度的環(huán)

tsi8533可吸入顆粒物分析儀產(chǎn)品應(yīng)用：

?工業(yè)/ 職業(yè)衛(wèi)生研究     
?室內(nèi)空氣質(zhì)量研究
?基線趨勢(shì)跟蹤和監(jiān)控     
?點(diǎn)源監(jiān)測(cè)     
?工程控制評(píng)價(jià)     
?工程研究      
?遠(yuǎn)距控制
?排放源監(jiān)測(cè)
?氣溶膠基礎(chǔ)研究

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