硅片，薄膜厚度測(cè)試儀
簡(jiǎn)介：
米特爾硅片薄膜測(cè)厚儀是LE1000-2接觸式測(cè)厚儀，因?yàn)樾詢r(jià)比高、準(zhǔn)確度 高、低力值接觸/受壓能力，居于地位，在北美，亞洲和歐洲市場(chǎng)廣泛應(yīng)用于：塑料膠片、塑料膜、硅片生產(chǎn)商。
一、儀器特點(diǎn)：
米特爾硅片薄膜測(cè)厚儀擁有*新式的高精度內(nèi)部光學(xué)測(cè)量?jī)x器。通過電纜釋放裝置cable release）或空氣壓力連接柱塞驅(qū)動(dòng)。適用于薄膜厚度、位移、位置及尺寸的精確測(cè)量。LE 1000-2是大部分測(cè)量應(yīng)用的理想儀器。是*具性價(jià)比的機(jī)械測(cè)量法塑膠薄膜和薄片厚度測(cè)定儀器。
二、功能及優(yōu)勢(shì)：
米特爾硅片薄膜測(cè)厚儀的系統(tǒng)高精度：優(yōu)于± 0.2 μm
固定支架：直徑80mm的堅(jiān)固鋼圈及鑄鋼基座，適用于精確的重復(fù)測(cè)量。
線性：貫穿整個(gè)12mm或25mm的測(cè)量范圍。
操控簡(jiǎn)便：提供控制器的用戶友好設(shè)置界面，可設(shè)置單位及其它特性。
壓強(qiáng)極低：LE 1000-2的修正版本可提供“*低壓強(qiáng)”，適用于薄膜厚度測(cè)定
RS-232 輸出：可連接計(jì)算機(jī)或數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)
米特爾硅片薄膜測(cè)厚儀的數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)：傳輸實(shí)時(shí)數(shù)據(jù)到Excel®, Access®或其它Windows適用程序，可同時(shí)將信息發(fā)送到CSV 磁盤文檔 (可選擇)
自動(dòng)歸零按鈕：儀器閑置時(shí)可自動(dòng)歸零，輕易實(shí)現(xiàn)測(cè)量的增減。
柱塞驅(qū)動(dòng)：通過電力釋放裝置，或工作部件，或氣壓
測(cè)量范圍更長(zhǎng)：60mm及100mm適用
LCD顯示：可顯示測(cè)量結(jié)果、設(shè)置參數(shù)及操控功能。
完整的系統(tǒng)：包括傳感器、控制器、支架、鋼索起重器(with MT12/25)及std. 測(cè)量端
探頭感應(yīng)面積：5平方毫米
樣品*大規(guī)格：50平方厘米。
三、滿足標(biāo)準(zhǔn)：
ASTM D645、ASTM D374、ASTM D1777、ISO 4593、ISO 534、ISO 3034、DIN 53105、
GB/T 6672、GB/T 451.3、GB/T 6547、JIS、BS等標(biāo)準(zhǔn)。
：田先生
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