產(chǎn)品介紹INTRODUCTION
劃痕測(cè)試儀已被廣泛應(yīng)用于界定硬質(zhì)薄膜的力學(xué)性能,適用的薄膜厚度一般大于1微米。應(yīng)用領(lǐng)域包括有機(jī)薄膜、無機(jī)薄膜,摩擦學(xué)薄膜、磁性薄膜,裝飾性薄, PVD, CVD, PECVD方法生產(chǎn)的金屬鍍膜、鈍化膜、減低摩擦磨損系數(shù)的保護(hù)性薄膜等?;w材料可以為金屬、合金、半導(dǎo)體、玻璃、礦物、以及有機(jī)材料等。
規(guī)格SPECIFICATION
- 劃痕測(cè)試技術(shù):針頭在試樣表面劃出一條精確控制的破壞痕跡。劃痕針頭材料通常為金剛石或硬質(zhì)合金,它以恒定加載,階梯加載或線性加載方式劃過測(cè)試材料表面。薄膜將在某一臨界載荷處失效,臨界載荷處的失效形式可以非常精確地由各種集成的傳感器和成像工具來測(cè)量。除各種成像工具外,劃痕測(cè)試儀同時(shí)集成正向載荷、切向載荷、穿透深度和聲發(fā)射信號(hào)數(shù)據(jù)。這些測(cè)量信號(hào)與成像工具觀察的綜合分析結(jié)果,構(gòu)成了各種膜基系統(tǒng)破壞形式的標(biāo)識(shí)
- 正向載荷范圍:0.5-200N
- 載荷分辨率:3mN
- 摩擦力:200N
- 摩擦力分辨率:3mN
- 劃痕長(zhǎng)度:70mm
- 劃痕深度:1mm
- XY工作臺(tái):70mm X 20mm
- 光學(xué)顯微鏡放大倍率:200倍,800倍
- CCD: 彩色 768 X 582
特點(diǎn)FEATURES
- 金剛石劃痕針頭
- 閉環(huán)力反饋系統(tǒng)
- 聲發(fā)射傳感器
- 光學(xué)測(cè)量工具
- 計(jì)算機(jī)自動(dòng)控制
- 校準(zhǔn)穩(wěn)定性
- 符合國(guó)際工業(yè)標(biāo)準(zhǔn)ASTM、C1624、EN 1071