設(shè)備的工作室尺寸及溫度沖擊范圍可根據(jù)用戶需求訂制。
| 1.1. 工作室溫度沖擊范圍 1.2. 高溫室溫度范圍 1.3. 低溫室溫度 1.4. 溫度波動度： 1.5. 溫 度 偏 差 1.6. 溫度恢復(fù)時間 1.7. 溫度轉(zhuǎn)換時間
| －40℃～+150℃ 60℃～200℃、升溫時間≤45分鐘 -10℃～-50℃、降溫時間≤50分鐘 ≤±0.5℃ ≤±2℃ ≤5分鐘 ≤10 秒 |
| 1.8 吊 籃 尺 寸 1.9 高溫室尺寸 1.10 低溫室尺寸 | 350×250×50（mm）（長×寬×高） 500×500×400（mm）（長×寬×高） 500×500×400（mm）（長×寬×高） |
設(shè)備形式：二箱式 冷卻水溫： 28℃
| 箱體材質(zhì) | 高低溫沖擊試驗箱內(nèi)箱采用1.2mm優(yōu)質(zhì)不銹鋼板，外殼1.5mm冷軋板靜電噴塑 |
| 控制系統(tǒng) | 采用進口彩色觸摸屏控制器，精度：±0.1℃ |
| 制冷系統(tǒng) | 采用進口或法國“泰康”制冷機組，制冷劑進口環(huán)保型R404A、R23 |
| 保護裝置 | 超溫保護，缺相保護，漏電保護，壓縮機超壓等多重保護功能 |
| 高低溫沖擊試驗箱執(zhí)行標(biāo)準(zhǔn) |
| GB/T2423.1-2001《電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程》試驗A：低溫試驗方法 |
| GB/T2423.2-2001《電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程》試驗b：高溫試驗方法 GB/T2423.22 《電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程》試驗N：溫度變化試驗方法
|
