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徠卡顯微鏡照明（燈光）系統(tǒng)

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公司名稱茂鑫實業(yè)（上海）有限公司
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廠商性質(zhì)其他
更新時間2024/3/30 15:10:17
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茂盤實業(yè)(. 上海)有限公司總部位于上海自由貿(mào)易區(qū)加太路29號。公司主要生產(chǎn)，代理進(jìn)口的光學(xué)儀器:德國徠卡LEICA顯微鏡，徠卡清潔度檢測儀DM4M,徠卡汽車零件清潔度檢測儀DM6M，徠卡3D顯微鏡DVM6A DVM6M,徠卡汽車部件清潔度檢測儀M165C,鑄件孔隙率檢測儀，金相顯微鏡DM2700M,實體顯微鏡M125 M205A視頻顯微鏡DMS300 DMS1000立體顯微鏡S9E S9D S91,徠卡金相分析軟件,大器縱橫金相分析軟件，Karlstorz德國卡爾史托斯工業(yè)內(nèi)窺鏡以及各類實驗測試儀器。德國Jenoptik業(yè)納軸類光學(xué)測量儀。業(yè)納輪廓儀，業(yè)納圓度儀圓柱度儀，業(yè)納粗糙度檢測儀，形狀測量儀，業(yè)納工業(yè)相機，業(yè)納顯微鏡用數(shù)碼相機，業(yè)納3D掃描儀,業(yè)納曲軸凸輪軸測量儀。美國工業(yè)物理集團(tuán)，OxySense頂空氧分析儀， OxySense 5250i頂空氧及溶解氧分析儀, Oxysense 325i頂空氧及溶解氧分析儀，Systech linois選氧分析儀。透濕分析儀,透氧透濕分析儀，Systech linoiss包裝密封測試儀，Systech linois 7100系列水蒸氣話過率分析儀, Systech llinoi 8100系列氧氣話過率分析儀。膜厚測試儀，TQC Sheen鍍層涂料涂層膜厚測試儀，TQC Sheen鍍層測厚儀，涂層測厚儀, TQC Sheen干膜厚度檢測儀，TQC Sheen DewCheck露點儀，TQCSheen PowderTAG粉末涂層厚度儀, TQC Sheen光澤度儀。美國UTS材料試驗機，United Testing Systems DFM落地式電子試驗機，DTM臺式電子試驗機，United Testing Systems液壓材料試驗機,硬度計，切割機，研磨機，鑲嵌設(shè)備。美國TM E1ectronics Worker Integra 真空衰減法檢漏儀，美國TM Electronics BT-integra Pack真空衰減法檢漏儀。C&W-英國循環(huán)腐蝕試驗箱，C&W-英國鹽霧試驗箱。Ray Ran HOV6熱變形維卡測試，Ray-Ran 6MPCA熔指儀，Ray Ran DGA3/DGA6 密度梯度儀，Ray-Ran DI擺錘沖擊儀，Ray -Ran FCP氣動沖切刀。尼康工具顯微鏡MM400,MM800,尼康投影儀V-12BDC,V-20B，尼康高度計尼康數(shù)顯高度計MF-1001 / MF-501 / MH-15M。尼康CNC自動影像測量儀VMA2520,VMA4540,VMZ -R3020,VMZ-R6555.OGP CNC全自動影像測量儀ZIP250,ZIP450,CNC250,CNC500,MVP300,MVP400等。經(jīng)營的品牌主要有:德國徠卡Leica ,德國業(yè)納精密儀器Jenoptik,日本尼康Nikon,美國物理工業(yè)集團(tuán)材料檢測儀器，美國OGP自動影像測量儀等。英國C&W,英國CW,-卡爾史托斯Karlstorz內(nèi)窺鏡等。在中國銷售網(wǎng)絡(luò)，以華東區(qū)為核心，面向全國各地研究所、高校、科研單位、內(nèi)資外資企業(yè)。海外銷售網(wǎng)絡(luò)，主要出口優(yōu)質(zhì)高性價比國產(chǎn)的光學(xué)儀器、實驗器材到亞洲的客戶，并拓展了歐洲的市場。我們一直致力于為國內(nèi)外客戶提供高品質(zhì)儀器設(shè)備，并提供完善和優(yōu)質(zhì)的售后服務(wù)。公司有10年經(jīng)驗以上的工程師團(tuán)隊，可以向客戶提供定制產(chǎn)品的設(shè)計和最JIA解決方案。客戶對工藝品質(zhì)的追求永BU停止，茂盤實業(yè)能夠提供更新更高品質(zhì)的儀器設(shè)備來支持客戶實現(xiàn)理想。茂盤實業(yè)(上海)有限公司是一家在精密儀器行業(yè)范圍內(nèi)集產(chǎn) 品研發(fā)進(jìn)出口、銷售、安裝和售后服務(wù)為一體的高科技企業(yè)。公司擁有行業(yè)內(nèi)經(jīng)驗豐富的技術(shù)人員與專業(yè)化銷售團(tuán)隊，客戶遍布各個領(lǐng)域。茂盤實業(yè)致力于為客戶提供便捷的采購服務(wù)，以及一站式的進(jìn)出口貿(mào)易服務(wù)。

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徠卡顯微鏡照明（燈光）系統(tǒng)用于顯微觀察的照明對終圖像質(zhì)量有非常重要的影響。燈源的改變可以影響到：清潔度檢測設(shè)備,孔隙率檢測設(shè)備,金相分析設(shè)備,材料研究顯微鏡,微觀拍照測量顯微鏡徠卡金相顯微鏡DM4M光學(xué)設(shè)計上采用的HC無限遠(yuǎn)軸向、徑向雙重色差校正光學(xué)技術(shù)，*消除雜散光等干擾因素?？膳渲肔EICA DM4M徠卡清潔度檢測設(shè)備，清潔度檢測儀，自動掃描，自動對焦應(yīng)用于汽車部件清潔度檢測并且

徠卡顯微鏡照明（燈光）系統(tǒng) 產(chǎn)品信息

徠卡顯微鏡照明 (燈光) 系統(tǒng)

為工業(yè)應(yīng)用獲取結(jié)果對于嘗試為樣品觀察選擇照明或燈光系統(tǒng)的立體顯微鏡。用于顯微觀察的照明對最終圖像質(zhì)量有非常重要的影響。燈源的改變可以影響到：清潔度檢測設(shè)備,孔隙率檢測設(shè)備,金相分析設(shè)備,材料研究顯微鏡,微觀拍照測量顯微鏡。徠卡金相顯微鏡DM4M光學(xué)設(shè)計上采用的HC無限遠(yuǎn)軸向、徑向雙重色差校正光學(xué)技術(shù)，*消除雜散光等干擾因素?？膳渲肔EICA DM4M-CLEANLINESS EXPERT 版本全自動顯微鏡，自動掃描，自動對焦應(yīng)用于符合ISO16232 VDA19 ISO4406

對于嘗試為樣品觀察選擇照明或燈光系統(tǒng)的立體顯微鏡用戶，本報告可為其提供有用的建議。

用于顯微觀察的照明對最終圖像質(zhì)量有非常重要的影響。選擇能呈現(xiàn)效果的照明取決于樣品的類型、樣品相關(guān)特征以及顯微鏡觀察的應(yīng)用領(lǐng)域和目的。以下信息有助于顯微鏡用戶選擇產(chǎn)生成像效果的照明系統(tǒng)。

為工業(yè)應(yīng)用獲取結(jié)果

對于嘗試為樣品觀察選擇優(yōu)照明或燈光系統(tǒng)的立體顯微鏡用戶，本報告可為其提供有用的建議。
用于顯微觀察的照明對最終圖像質(zhì)量有非常重要的影響。選擇能呈現(xiàn)佳效果的照明取決于樣品的類型、樣品相關(guān)特征以及顯微鏡觀察的應(yīng)用領(lǐng)域和目的。以下信息有助于顯微鏡用戶選擇產(chǎn)生佳成像效果的照明系統(tǒng)。
LED (發(fā)光二極管) 照明的優(yōu)勢
與常用的鹵素?zé)粝啾?，LED 顯微鏡照明技術(shù)可為顯微成像提供幾大優(yōu)勢，包括：
·更長的壽命 (25,000 至 50,000 小時)
·更低的功耗
·自然色溫
·冷光"源 → 更少的熱量釋放 (對溫度敏感的樣品很有用)
·實用的緊湊型設(shè)計
·即使在不同亮度等級下也能保持恒定的色溫
選擇照明的關(guān)鍵因素
選擇正確的照明類型時，要針對樣品的高品質(zhì)顯微觀察和成像考慮幾點重要因素：
·要觀察何種類型的樣品？
·要分析樣品的哪些特征？
·使用當(dāng)前所用照明類型有哪些不足？
·在顯微觀察期間是否需要操作樣品，例如，使用刀、鑷子、烙鐵或其它工具進(jìn)行操作？

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同軸照明 (CXI)
同軸照明 (CXI) 的光束由光學(xué)部件引導(dǎo)并從樣品上反射，Z適合反光的平滑樣品。在需要評估細(xì)裂紋或表面質(zhì)量時，它極為有用。

近距離垂直照明 (NVI)
近距離垂直照明 (NVI) 的 LED 位置距離光軸非常近，因此能提供幾乎無陰影的照明，對于具有凹陷和深孔或需要長工作距離的樣品非常適用。

點光源照明 (SLI)

點光源照明 (SLI) 具有靈活的鵝頸，可提供適合多種樣品類型的高對比度照明。

漫射和高度漫射照明 (DI 和 HDI)

漫射和高度漫射照明 (DI 和 HDI) 設(shè)計用于高反射的非平面或曲面樣品，這些樣品由于背光反射量大很難成像。

多對比度照明 (MCI)
多對比度照明 (MCI) 利用兩種方向和角度不同的照明進(jìn)行重復(fù)對比，適用于難以找到細(xì)節(jié)的樣品。

背光照明 (BLI)
背光照明 (BLI) 為透明樣品提供透射照明。

使用 Leica LED5000 和 LED3000 照明的結(jié)果
以下顯示的是各種樣品的圖像示例。這些圖像是使用 LeicaM165 立體顯微鏡記錄的，顯微鏡配有 Leica DFC495 數(shù)碼攝像頭和 LED3000 或 LED5000 系列照明系統(tǒng)。

樣品：印刷電路板 (PCB)

樣品：髖關(guān)節(jié)植入部分

樣品：微電子學(xué)

其它推薦
在選擇照明系統(tǒng)時，除了 Leica Microsystems 顯微鏡使用的高品質(zhì)光學(xué)部件外，確定要分析的樣品特征和觀察所需的視場 (即視野) 也十分重要。
此外，還需考慮計算機編碼的優(yōu)勢和適當(dāng)?shù)娘@微鏡光學(xué)性能，即平場、復(fù)消色差、消色差等物鏡鏡頭。
請牢記，還要顧及到其它照明因素：
·為了實現(xiàn)所需的光學(xué)性能，某些照明系統(tǒng)可能互不兼容，例如，Leica LED5000 RL 照明系統(tǒng)不能使用 2.0 倍物鏡鏡頭
·必須考慮替代照明系統(tǒng)，例如，在使用帶有物鏡轉(zhuǎn)盤的立體顯微鏡或使用小工作距離的顯微鏡配置時，應(yīng)選用帶有鵝頸系統(tǒng)的 Leica LED 點光源 (SLI) 而不是 Leica LED環(huán)形燈 (RL)。