LJD-B型介電常數及介質損耗測試儀

　　LJD-B型【介電常數分析儀】

　　介電常數分析儀技術參數：

　　*1.信號源: DDS數字合成信號 10KHZ-70MHZ

　　*2.信號源頻率精度3×10-5 ±1個字,6位有效數

　　3．Q值測量范圍：1～1023

　　4．Q值量程分檔：30、100、300、1000、自動換檔或手動換檔；

　　*5．電感測量范圍：1nH～8.4H 自身殘余電感和測試引線電感的自動扣除功能

　　*6．電容直接測量范圍：1pF～2.5uF

　　*7．主電容調節(jié)范圍：30～540pF

　　8.準確度 150pF以下±1pF；150pF以上±1%

　　9．信號源頻率覆蓋范圍10kHz～70MHz

　　10．合格指示預置功能范圍：5～1000

　　11．環(huán)境溫度：0℃～+40℃；

　　12．消耗功率：約25W；電源：220V±22V，50Hz±2.5Hz。

　　13. S916（數顯）介電常數εr和介質損耗因數tanδ測試裝置：

　　絕緣紙介電常數介質損耗測試儀數顯式微桿

　　平板電容器：

　　極片尺寸： 38mm

　　極片間距可調范圍：≥15mm

　　夾具插頭間距：25mm±0.01mm

　　夾具損耗正切值≤4×10－4 （1MHz）

　　測微桿分辨率：0.001mm

　　測試極片：材料測量直徑Φ38mm厚度可調 ≥ 15mm

　　*液體杯：測量極片直徑 Φ38mm； 液體杯內徑Φ48mm 、深7mm

　　14. 電感組LKI-1：

　　分別有0.1μH、0.5μH、2.5μH、10μH、50μH、100μH、1mH、5mH、10mH九個電感組成。

　　15、主機尺寸：（寬×高×深）mm：380×132×280

　　16、重量約：7KG

　　【介電常數分析儀】術語

　　定義：絕緣紙介電常數介質損耗測試儀

　　這些試驗方法所用術語定義以及電絕緣材料相關術語定義見術語標準D1711。

　　本標準用術語定義：

　　電容，C，名詞——當導體之間存在電勢差時，導體和電介質系統(tǒng)允許儲存電分離電荷的性能。

　　討論——電容是指電流電量 q與電位差V之間的比值。電容值總是正值。當電量采用庫倫為單位，電位采用伏特為單位時，電容單位為法拉，即：

　　C=q/V （1）

　　耗散因子（D），（損耗角正切），（tanδ），名詞——是指損耗指數（K''）與相對電容率（K'）之間的比值，它還等于其損耗角（δ）的正切值或者其相位角（θ）的余切值（見圖1和圖2）。

　　D=K''/K' (2)

　　3.2.2.1 討論——a：

　　D=tanδ=cotθ=Xp/Rp=G/ωCp=1/ωCpRp(3)

　　式中：

　　G=等效交流電導，

　　Xp=并聯(lián)電抗，

　　Rp=等效交流并聯(lián)電阻，

　　Cp=并聯(lián)電容，

　　ω=2πf（假設為正弦波形狀）

　　耗散因子的倒數為品質因子Q，有時成為儲能因子。對于串聯(lián)和并聯(lián)模型，電容器耗散因子D都是相同的，按如下表示為：

　　D=ωRsCs=1/ωRpCp(4)

　　串聯(lián)和并聯(lián)部分之間的關系滿足以下要求：

　　Cp=Cs/(1 D2) (5)

　　Rp/Rs=(1 D2)/D2=1 (1/D2)=1 Q2(6)