J200 Femto iX LA 激光燒蝕(LA)系統(tǒng)
J200 Femto iX激光燒蝕(LA)儀器
200 Femto iX LA儀器代表了基于世界上緊湊的臺(tái)式設(shè)計(jì)的超快激光采樣技術(shù)的新技術(shù)。該儀器是高度成功和久經(jīng)考驗(yàn)的J200 Femto LA儀器的下一步發(fā)展,J200 Femto LA儀器在世界上擁有大的安裝量。
J200 Femto iX的核心是緊湊而堅(jiān)固的激光源,可從Applied Spectra獲得。J200 Femto iX具有*的硬件設(shè)計(jì),包括智能運(yùn)輸氣體控制,自動(dòng)樣品高度調(diào)節(jié),高分辨率3D樣品臺(tái),創(chuàng)新的樣品池和LIBS(激光誘導(dǎo)擊穿光譜)附加功能,是具創(chuàng)新性的飛秒可以解決苛刻的LA-ICP-MS分析的LA儀器。該儀器還配有業(yè)界的數(shù)據(jù)分析軟件Clarity Femto,可進(jìn)行有效的時(shí)間分辨ICP-MS信號(hào)處理,簡單的定量分析,2D / 3D元素成像和樣品取證。
J200 Femto iX LA儀器的亮點(diǎn):
- 高精度,準(zhǔn)確度和靈敏度
- 緊湊的臺(tái)式設(shè)計(jì)
- 負(fù)擔(dān)得起的費(fèi)用
- 維護(hù)成本低
- 緊湊型高重復(fù)率飛秒激光器
- 智能運(yùn)輸氣體控制
- 自動(dòng)調(diào)整樣品高度
- 高分辨率3D樣品臺(tái)
- 創(chuàng)新的樣品池
- 串聯(lián)LA-ICP-MS和LIBS分析的LIBS(激光誘導(dǎo)擊穿光譜)附加功能
應(yīng)用須知
使用J200 LA儀器實(shí)現(xiàn)超靈敏電感耦合等離子體質(zhì)譜(LA-ICP-MS)分析:玻璃樣品研究
Applied Spectra Inc.的J200 LA儀器與ICP-MS連接以建立品質(zhì)因數(shù)。分析了NIST玻璃SRM(玻璃中的痕量元素)以確定可以檢測的質(zhì)量并確定檢測限(LOD)。