芯片冷熱沖擊測試箱是一款用來做溫度快速沖擊實驗的設(shè)備，*快高低溫從-40度沖至85度可在2秒鐘內(nèi)達到高低溫轉(zhuǎn)換，5分鐘內(nèi)穩(wěn)定。也是一款用于做溫度破壞型的實驗設(shè)備。實驗用沖擊箱根據(jù)實驗需求及測試標(biāo)準(zhǔn)分為三箱式和兩箱式，區(qū)別在于實驗方式和內(nèi)部結(jié)構(gòu)不同。三箱式分為蓄冷室，蓄熱室和實驗室，產(chǎn)品在測試時是放置在實驗室。兩箱式分為高溫室和低溫室，是通過電機帶動提籃運動來實現(xiàn)高低溫的切換，產(chǎn)品放在提籃里，是隨提籃一起移動的。用戶可根據(jù)自己有實際需求選擇相關(guān)規(guī)格型號。

技術(shù)參數(shù):

1、實驗可選溫度范圍：A：-40～150℃、B：-55～150℃、C：-65～150℃

2、低溫蓄冷箱：-55～10℃、-65～10℃、-75～10℃、

3、高溫蓄熱箱： RT+10℃～160℃； RT+10℃～180℃；RT+10℃～200℃

4、溫度波動度：高溫室與低溫室均≤±2℃;樣品區(qū)溫度波動≤±0.5℃（恒溫時）；

5、標(biāo)準(zhǔn)配置多層加熱觸霜附照明玻璃視窗1套、試品架2個、測試引線孔（25、50mm）1個；

6、溫度轉(zhuǎn)換時間：溫度轉(zhuǎn)換時間從低溫區(qū)到高溫區(qū)或從高溫區(qū)到低溫區(qū)  ≤10S；

7、溫度回復(fù)時間≤5min(與溫度恢復(fù)條件有關(guān)，既冷卻水溫、暴露溫差、恒溫時間、樣品重量有關(guān)）

8、電源要求：AC380（±10%）V/50HZ  三相五線制.

芯片冷熱沖擊測試箱產(chǎn)品特點：

1.現(xiàn)有標(biāo)準(zhǔn)型號可滿足不同試驗需求，也可根據(jù)顧客需求特殊化提供定制服務(wù)。

2.高質(zhì)感箱體外觀采用圓弧造型設(shè)計

3采用平面無反作用把手易操作、安全可靠

4.箱體板金結(jié)構(gòu)及結(jié)構(gòu)件均采用通快數(shù)控機床(CNC)高度加工成型

5.長方形復(fù)層鋼化玻璃觀察窗口附照明燈，可隨時觀察試驗中試驗品的狀況

6.箱門雙層隔絕氣密迫緊，可有效隔絕內(nèi)部溫度泄漏

7.獨立的加熱系統(tǒng)采用鎳鉻合金加熱器實現(xiàn)快速升溫

8.制冷系統(tǒng)采用全封閉壓縮機或歐美半封閉壓縮機（如）水冷（或風(fēng)冷），環(huán)保冷媒(HFC-

404 / HFC-23)

9.管路系統(tǒng)采用固定夾片及防振軟管的能有效地支撐同時也能緩解運輸或設(shè)備運轉(zhuǎn)中產(chǎn)生

14.觸摸屏控制器，120 程度,2個段或3個段. 每一個命令可達999次; 程式段時間設(shè)定0～99Hour59Min。