| 儀器名稱： | 俄歇電子能譜（AES） | 型號： | Thermo Scientific Escalab 250Xi |
| 檢測項(xiàng)目： | 1.能分析≥20nm直徑的異物成分，且異物的厚度不受限制（能達(dá)到單個(gè)原子層厚度，0.5nm）。 2.利用AES的深度濺射功能測試≥3nm膜厚厚度。 3.利用D-SIMS結(jié)合AES能準(zhǔn)確測定各層薄膜厚度及組成成分。 | ||
| 應(yīng)用范圍： | 應(yīng)用于鑒定樣品表面的化學(xué)性質(zhì)及組成的分析，其特點(diǎn)在俄歇電子來極表面甚至單個(gè)原子層，僅帶出表面的化學(xué)信息，具有分析區(qū)域小、分析深度淺和不破壞樣品的特點(diǎn)，廣泛應(yīng)用于材料分析以及催化、吸附、腐蝕、磨損等方面的研究。 | ||
| 制樣要求： | 1.樣品規(guī)格尺寸為1×1×0.5cm，當(dāng)樣品尺寸過大需切割取樣。 2.取樣的時(shí)候避免手和取樣工具接觸到需要測試的位置，取下樣品后使用真空包裝或其他能隔離外界環(huán)境的包裝， 避免外來污染影響分析結(jié)果。 3.由于AES測試深度太淺，無法對樣品噴金后再測試，所以絕緣的樣品不能測試，只能測試導(dǎo)電性較好的樣品。 4.AES元素分析范圍Li-U，只能測試無機(jī)物質(zhì)，不能測試有機(jī)物物質(zhì)，檢出限0.1%。 | ||
PS：送樣請附帶“委托測試單”。
測試提示：
1.可開正規(guī)測試發(fā)票，附帶測試清單。
2.有腐蝕性，毒性，或其他有危害性等特殊樣品要事先告知測試人員，測試人員也要告知樣品方哪些樣品不能測或會對儀器產(chǎn)生損傷，測試后會對樣品產(chǎn)生哪些變化；
3.客戶需提供詳細(xì)的樣品資料，包括元素，主要成分和詳細(xì)測試參數(shù)及條件。和測試人員充分討論，商定最終測試條件；
4.測試人員與顧客通過或郵件溝通，出現(xiàn)測試糾紛，郵件或記錄將作為重要的仲裁依據(jù)；請加和技術(shù)人員交流：。
5.杜絕測試、解析和合成違反國家相關(guān)法律法規(guī)的樣品，一經(jīng)發(fā)現(xiàn)將追究其法律責(zé)任。
