| 儀器名稱： | X射線光電子能譜分析儀（XPS） | 型號(hào)： | Thermo Scientific Escalab 250Xi |
| 檢測(cè)項(xiàng)目： | 常規(guī)全譜，窄譜，UPS，俄歇譜，價(jià)帶譜，深度濺射（刻蝕），MAPPING,角分辨，原位，變溫 | ||
| 應(yīng)用范圍： | 1.定性：元素種類及價(jià)態(tài)信息 X-射線光電子能譜(XPS)可以定性檢測(cè)元素周期表中除H和He以外的幾乎所有元素; 2.定量：半定量，屬于表面靈敏型測(cè)試，探測(cè)深度小于10納米; 3.成像：元素XPS二維成像，200-800微米范圍。 | ||
| 制樣要求： | 1.粉末測(cè)試需要量一般不小于0.2ml或者10mg，樣品需干燥; 2.固體樣品尺寸塊狀5*5mm，厚度盡量低于4mm，表面須平整，樣品需干燥; 3.液體樣須滴在鋁箔或者硅片等載體上烘干形成液膜，一般重復(fù)3-5次烘干滴液差不多即可測(cè)不到基底; 4.材料必須是無(wú)放射性、無(wú)毒性、無(wú)揮發(fā)性物質(zhì)(如單質(zhì)Na, K, S, P, Zn, Se, As, I, Te, Hg等); 5.磁性樣品(可以測(cè)試)請(qǐng)送樣時(shí)告知; 6.元素窄譜如果有特殊要求請(qǐng)備注，如果沒有特殊說明，默認(rèn)測(cè)試峰，如果峰和其他元素的峰有重疊，默認(rèn)測(cè)試次強(qiáng)峰。需要掃特殊峰請(qǐng)備注。 7.小于1%的元素可能測(cè)不出明顯信號(hào)； 8.普通樣品測(cè)試一般包括一個(gè)全譜和含碳的五個(gè)以內(nèi)單元素精細(xì)譜；超過五個(gè)元素的按每個(gè)元素加收費(fèi)用；樣品不提供數(shù)據(jù)分析處理，如需要分析處理加收費(fèi)用； 9.其他問題和特殊測(cè)試要求可在線溝通。 | ||
PS：送樣請(qǐng)附帶“委托測(cè)試單”。
測(cè)試提示：
1.可開正規(guī)測(cè)試發(fā)票，附帶測(cè)試清單。
2.有腐蝕性，毒性，或其他有危害性等特殊樣品要事先告知測(cè)試人員，測(cè)試人員也要告知樣品方哪些樣品不能測(cè)或會(huì)對(duì)儀器產(chǎn)生損傷，測(cè)試后會(huì)對(duì)樣品產(chǎn)生哪些變化；
3.客戶需提供詳細(xì)的樣品資料，包括元素，主要成分和詳細(xì)測(cè)試參數(shù)及條件。和測(cè)試人員充分討論，商定最終測(cè)試條件；
4.測(cè)試人員與顧客通過或郵件溝通，出現(xiàn)測(cè)試糾紛，郵件或記錄將作為重要的仲裁依據(jù)；請(qǐng)加和技術(shù)人員交流：。
5.杜絕測(cè)試、解析和合成違反國(guó)家相關(guān)法律法規(guī)的樣品，一經(jīng)發(fā)現(xiàn)將追究其法律責(zé)任。
