一、產(chǎn)品名稱：冷熱沖擊試驗(yàn)箱（吊籃式）
二、產(chǎn)品型號(hào)：GX-3000-100CH
三、產(chǎn)品說(shuō)明：冷熱沖擊試驗(yàn)箱又名高低溫沖擊試驗(yàn)箱，快速溫變?cè)囼?yàn)箱。本系列冷熱沖擊試驗(yàn)箱主要用于測(cè)試材料對(duì)*溫或極低溫的抵抗力，這種情況類似于不連續(xù)地處于高溫或低溫中的情形，冷熱沖擊試驗(yàn)?zāi)苁垢鞣N物品在最短的時(shí)間內(nèi)完成測(cè)試。熱震中產(chǎn)生的變化或物理傷害是熱脹冷縮改變或其他物理性值的改變而引起的，采用PID系統(tǒng)，各類產(chǎn)品才能獲得*之信賴。熱震的效果包括成品裂開或破層及位移等所引起的電化學(xué)變化，PID系統(tǒng)的全數(shù)字元自動(dòng)控制，使您操作簡(jiǎn)易。
四、適用行業(yè)：吊籃式冷熱沖擊試驗(yàn)箱廣泛用于新能源、電池產(chǎn)品、電子電器零組件、自動(dòng)化零部件、通訊組件、汽車 配件、金屬、化學(xué)材料、塑料等行業(yè)，國(guó)防工業(yè)、航天、兵工業(yè)、BGA、PCB基扳、電子芯片IC、半導(dǎo)體陶磁及高分子材料之物理牲變化,測(cè)試其材料對(duì)高、低溫的反復(fù)抵拉力及產(chǎn)品于熱脹冷縮產(chǎn)出的化學(xué)變化或物理傷害，可確認(rèn)產(chǎn)品的質(zhì)量,從精密的IC到重機(jī)械的組件，可作為其產(chǎn)品改進(jìn)的依據(jù)或參考。
五、依據(jù)標(biāo)準(zhǔn)：
5.1.GB5170、2、3、5、6 《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法低溫、高溫設(shè)備》
5.2.GB2423.1-2008(IEC68-2-1)《試驗(yàn)A：低溫試驗(yàn)方法》
5.3.GB2423.2-2008(IEC68-2-2)《試驗(yàn)B：高溫試驗(yàn)方法》
5.4.GB/T2423.22-2008 《試驗(yàn)N: 溫度變化試驗(yàn)方法》
5.5.GJB150.3A-2009(MIL-STD-810D)《高溫試驗(yàn)方法》
5.6.GJB150.4A-2009(MIL-STD-810D)《低溫試驗(yàn)方法》
5.8.GJB/150.5-2009 《溫度沖擊試驗(yàn)》
5.9.GJB360.7-87 《溫度沖擊試驗(yàn)》
5.10.GJB367.2-87 405《溫度沖擊試驗(yàn)》
5.11.SJ/T10187-91Y73《系列溫度變化試驗(yàn)箱-一箱式》
5.12.SJ/T10186-91Y73《系列溫度變化試驗(yàn)箱-二箱式》
5.13.GB/T 2424.13-2002《試驗(yàn)方法溫度變化試驗(yàn)導(dǎo)則》
六、規(guī)格參數(shù)：
6.1提藍(lán)尺寸 | 500*450*450(W*H*D)mm |
6.2溫度范圍 | -55℃~+170℃ |
6.3高溫室溫度范圍 | 室溫～+170℃ |
6.4升溫速率 | 室溫～+150℃≦40min(與低溫室同時(shí)進(jìn)行) |
6.5低溫室溫度范圍 | -55℃～+85℃ |
6.6降溫速率 | 室溫～-40℃≦50min(與高溫室同時(shí)進(jìn)行) |
6.7升降溫過(guò)沖 | ≤±3℃ |
6.8溫度分辨率 | 0.1℃ |
6.9溫度波動(dòng)度 | ≦±0.5℃ |
6.10溫度偏差 | ≦±2℃ |
6.11溫度均勻度 | ≦2℃ |
6.12溫度沖擊范圍 | -40℃~+150℃ |
6.13吊籃升降時(shí)間 | ≦10s |
6.14吊籃承載重量 | 50kg |
6.15沖擊歸復(fù)時(shí)間 | 5min內(nèi)完成溫度恢復(fù) |
6.16溫度沖擊方式 | 溫度控制器自動(dòng)控制提籃在低溫箱或高溫箱之間轉(zhuǎn)換運(yùn)動(dòng)，分別與高溫箱或低溫箱形成閉路空氣循環(huán)系統(tǒng)，迅速達(dá)到試驗(yàn)?zāi)繕?biāo)溫度。 |
