倒置結(jié)構(gòu)的設(shè)計使得XploRA INV與AFM的耦合變得很方便，可以實現(xiàn)拉曼-AFM聯(lián)用及針尖增強拉曼光譜（TERS），使我們在樣品測試過程中可以獲得納米級別的空間分辨率。
XploRA INV的開放式結(jié)構(gòu)保留了常規(guī)倒置顯微鏡各種附件的功能和兼容性，包括顯微控制器和“光鑷”以及特殊的細(xì)胞應(yīng)用附件等。
帶顯微進(jìn)樣器的XploRA INV樣品臺
XploRA INV也可與HORIBA一些*的掃描成像附件進(jìn)行耦合，如使用DuoScan技術(shù)進(jìn)行多通道超快速光譜成像，以及使用3D快速共焦成像（FCI）模塊進(jìn)行超快速熒光成像，從而快速尋找樣品。
該圖為使用XploRA INV分析尼羅紅在胚胎中的分布結(jié)果，顯示了細(xì)胞中尼羅紅與不同成分的結(jié)合狀態(tài)。左、中和右圖分別為白光圖像、FCI熒光圖像和高光譜共焦熒光成像。
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