涂鍍層測厚儀CMI233超聲波測厚儀

深圳市方源儀器有限公司*涂鍍層測厚儀CMI233超聲波測厚儀，涂鍍層測厚儀CMI233是全新一款可檢測測量各種磁性金屬基體上非磁性覆蓋層的厚度，可以測量鋼鐵上的各種電鍍（鍍鎳除外）、涂層、琺瑯、塑料等覆蓋層厚度，還可用于測量各種金屬箔（如銅箔、鋁箔、金箔等）和非金屬薄膜（如紙張、塑料等）的厚度。也可測量有色金屬基體上的油漆、塑料、橡膠等涂層，或者是鋁基體上的陽極氧化膜厚度等。應用于機械、汽車、造船、石油、化工、電鍍、噴塑、搪瓷、塑料等行業(yè)。

超聲波測厚儀是根據(jù)超聲波脈沖反射原理來進行厚度測量的，當探頭發(fā)射的超聲波脈沖通過被測物體到達材料分界面時，脈沖被反射回探頭，通過**測量超聲波在材料中傳播的時間來確定被測材料的厚度。凡能使超聲波以一恒定速度在其內(nèi)部傳播的各種材料均可采用此原理測量。

涂鍍層測厚儀CMI233超聲波測厚儀產(chǎn)品儀器示意圖：

涂鍍層測厚儀CMI233超聲波測厚儀規(guī)格參數(shù)：

涂鍍層測厚儀CMI233

品牌：英國牛津儀器Oxford

測試范圍：磁感應0-120mils(0-3.05mm);電渦流0-60mils(0-1.52mm)

分辨率：0.01mils(0.1um)

測試精度：1%或±0.1um依照參考標準片

保修期：1年

尺寸: 14.9X7.94X3.02cm
重量: 260g(含電池)

超聲波測厚儀

品牌：其他品牌

測試范圍：

B/標準13-1000um/0.5-40mils

B/上等13-1000um/0.5-40mils

C/標準50-3800um/2-150mils

C/上等50-3800um/2-150mils

分辨率：2um/0.1mils

測試精度：± 2um +3% 讀數(shù)/± 0.1mils + 3% 讀數(shù)

保修期：1年

尺寸: 146 x 64 x 31mm
重量: 105g（不含電池）

涂鍍層測厚儀CMI233超聲波測厚儀

其他測厚儀分類作用：

1、激光測厚儀是利用激光的反射原理，根據(jù)光切法測量和觀察機械制造中零件加工表面的微觀幾何形狀來測量產(chǎn)品的厚度，是一種非接觸式的動態(tài)測量儀器。它可直接輸出數(shù)字信號與工業(yè)計算機相連接，并迅速處理數(shù)據(jù)并輸出偏差值到各種工業(yè)設備。

2、X射線測厚儀利用X射線穿透被測材料時，X射線的強度的變化與材料的厚度相關(guān)的特性，滄州歐譜從而測定材料的厚度，是一種非接觸式的動態(tài)計量儀器。它以PLC和工業(yè)計算機為核心，采集計算數(shù)據(jù)并輸出目標偏差值給軋機厚度控制系統(tǒng)，達到要求的軋制厚度。主要應用行業(yè)：有色金屬的板帶箔加工、冶金行業(yè)的板帶加工。

3、紙張測厚儀：適用于4mm以下的各種薄膜、紙張、紙板以及其他片狀材料厚度的測量。

4、薄膜測厚儀：用于測定薄膜、薄片等材料的厚度，測量范圍寬、測量精度高，具有數(shù)據(jù)輸出、任意位置置零、公英制轉(zhuǎn)換、自動斷電等特點。

5、涂層測厚儀：用于測量鐵及非鐵金屬基體上涂層的厚度.(周)

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