蔡司能提供從原材料粉末的分析表征、到印后缺陷的觀察檢測、尺寸測量、材料的結(jié)構(gòu)質(zhì)量、表面質(zhì)量再到所有數(shù)據(jù)的分析統(tǒng)計(jì)等一系列的軟硬件產(chǎn)品方案。

　　01粉末材料的表征

　　各種粉末材料作為增材制造的原材料，對其質(zhì)量的把關(guān)是增材制造質(zhì)量控制的步。粉末顆粒的尺寸大小、尺寸分布、形狀、表面形貌、內(nèi)部致密性等，不僅影響打印后產(chǎn)品的性能而且還會(huì)影響整個(gè)工藝過程。

　　? 利用蔡司光學(xué)顯微鏡能夠快速得到粉末顆粒尺寸分布信息

　　? 利用蔡司掃描電子顯微鏡能夠獲取極小至納米尺度的顆粒尺寸信息，顆粒表面形貌信息，以及顆粒的成份信息

　　? 利用蔡司X射線顯微鏡能夠?qū)︻w粒形狀、尺寸和體積分布進(jìn)行詳細(xì)分析。分析粉末床壓實(shí)度與形狀的關(guān)系有助于確定合適的工藝參數(shù)，縮短打印配方的開發(fā)。

　　? 利用光學(xué)顯微鏡以及掃描電子顯微鏡進(jìn)行的都是顆粒二維的觀察及分析。而利用X射線顯微鏡則可以獲取顆粒三維方向的數(shù)據(jù)，同時(shí)還可以一次掃描多個(gè)顆粒。這里展示的是同時(shí)掃描三種顆粒的結(jié)果對比，分別是干凈顆粒、污染顆粒及報(bào)廢顆粒?？梢钥吹綀?bào)廢顆粒的粒徑非常大。

　　02印后產(chǎn)品缺陷與內(nèi)部結(jié)構(gòu)觀察

　　粉末的質(zhì)量以及在構(gòu)建過程中的分散方式可能會(huì)導(dǎo)致產(chǎn)品結(jié)構(gòu)中形成空隙或材料雜質(zhì)。使用蔡司光學(xué)顯微鏡檢查產(chǎn)品構(gòu)建質(zhì)量或使用高分辨率 X 射線顯微鏡檢查內(nèi)部結(jié)構(gòu)有助于確定工藝參數(shù)的影響，并更快地定義實(shí)現(xiàn)產(chǎn)品質(zhì)量的工藝參數(shù)。

　　? 通過光學(xué)顯微鏡的使用，對產(chǎn)品表面特征的特寫提供了對零件質(zhì)量和工藝參數(shù)可能存在 的缺陷，從而更好地了解微裂紋和分層的起源。

　　? 增材制造為的設(shè)計(jì)自由打開了大門，允許復(fù)雜的內(nèi)部結(jié)構(gòu)。高分辨率 X 射線顯 微鏡能夠?qū)@些結(jié)構(gòu)進(jìn)行*的觀察，并分析潛在的內(nèi)部缺陷。

　　? X射線顯微鏡檢測可以提供構(gòu)建完整性的*視圖，并顯著幫助優(yōu)化 3D 打印過程。零件的掃描圖像可以在任何方向上進(jìn)行橫切，并與 CAD 標(biāo)準(zhǔn)圖表進(jìn)行比較。