環(huán)保在線>產(chǎn)品庫>物性儀器-熱搜分類>厚度測量儀器>鍍層測厚儀>>X-Strata920 X射線熒光鍍層測厚儀

X-Strata920 X射線熒光鍍層測厚儀

參考價(jià)	￥ 18
訂貨量	≥1 瓶

具體成交價(jià)以合同協(xié)議為準(zhǔn)

公司名稱日立分析儀器（上海）有限公司
品牌
型號
所在地上海市
廠商性質(zhì)經(jīng)銷商
更新時(shí)間2020/2/24 20:39:36
訪問次數(shù)1016

產(chǎn)品標(biāo)簽:

測厚儀鍍層測厚儀 X射線熒光測厚儀 X射線測厚儀測定儀

在線詢價(jià)收藏產(chǎn)品點(diǎn)擊查看電話

索取相關(guān)資料

公司介紹主營產(chǎn)品

日立分析儀器專注于高科技分析解決方案，幫助數(shù)以千計(jì)的企業(yè)降低成本，降低風(fēng)險(xiǎn)，提高生產(chǎn)效率。我們實(shí)驗(yàn)室級和強(qiáng)大高性能現(xiàn)場檢測設(shè)備如光電直讀光譜儀、X射線熒光光譜（XRF）、X熒光測厚儀（鍍層測厚儀）、激光誘導(dǎo)擊穿光譜儀（LIBS）、油品分析儀、土壤分析儀等為客戶提供材料和涂鍍層分析，在整個(gè)生產(chǎn)周期中增加價(jià)值，包括從原材料勘探到來料檢驗(yàn)、生產(chǎn)和質(zhì)量控制到再循環(huán)。

展開顯示更多內(nèi)容

儀器儀表

產(chǎn)品簡介在線詢價(jià)

加工定制	否

X-Strata920 X射線熒光鍍層測厚儀提供易于使用、快速和無損的分析，幾乎不需要樣本制備，能夠分析元素周期表上從13Al 到92U 的固體或液體樣品。

X-Strata920 X射線熒光鍍層測厚儀產(chǎn)品信息

X-Strata920 X射線熒光鍍層測厚儀

方便快速進(jìn)行質(zhì)量控制和驗(yàn)證測試，在幾秒內(nèi)即可獲得準(zhǔn)確的數(shù)據(jù)。

基于X-光熒光的涂層厚度和材料分析是業(yè)內(nèi)廣泛接受認(rèn)可的分析方法，提供易于使用、快速和無損的分析，幾乎不需要樣本制備，能夠分析元素周期表上從13Al 到92U 的固體或液體樣品。

X-Strata920 X射線熒光鍍層測厚儀應(yīng)用

PCB / PWB 表面處理

控制表面處理工藝的能力決定線路板的品級、可靠性和壽命。IPC 4556和IPC 4552測量非電鍍鎳（EN，NiP）電鍍厚度和成分結(jié)構(gòu)。日立分析儀器產(chǎn)品幫助您在嚴(yán)控的范圍內(nèi)持續(xù)運(yùn)營，確保高質(zhì)量并避免昂貴的返工。

電力和電子組件的電鍍

零件必須在規(guī)格范圍內(nèi)被電鍍，以達(dá)到預(yù)期的電力、機(jī)械及環(huán)境性能。開槽的X-Strata和MAXXI系列產(chǎn)品，可以測量小的試片或連續(xù)帶狀樣品，從而達(dá)到引線框架（引線框架）、連接器插針、線材和端子的上、中和預(yù)鍍層厚度的控制。

IC 載板

半導(dǎo)體器件越來越小巧而復(fù)雜，需要分析設(shè)備測量其在小區(qū)域上的薄膜。日立分析儀器的分析儀設(shè)計(jì)為可為客戶所需應(yīng)用提供高準(zhǔn)確性分析，及重復(fù)性好的數(shù)據(jù)。

服務(wù)電子制造過程（EMS、ECS）

結(jié)合采購和本地制造的組件及涉及產(chǎn)品的多個(gè)測試點(diǎn)，實(shí)現(xiàn)從進(jìn)廠檢查到生產(chǎn)線流程控制，再到zui終質(zhì)量控制。日立分析儀器的微焦斑XRF產(chǎn)品幫助您在全生產(chǎn)鏈分析組件、焊料和zui終產(chǎn)品，確保每個(gè)階段的質(zhì)量。