JX-2000 A顯微顆粒圖像分析儀包括光學(xué)顯微鏡、數(shù)字CCD攝像頭、圖像處理與分析軟件、電腦、打印機等部分組成。因為粉體形態(tài)各異，在借助激光粒度儀測試的同時，選用JX-2000A型圖像分析儀，可以更準(zhǔn)確的直觀粒度形貌，控制好產(chǎn)品質(zhì)量。

JX-2000 A顯微顆粒圖像分析儀顆粒圖像測試原理：

顆粒在圖像儀上成像，組成圖像的zui小單位是像素，每個像素有特定的尺寸。通過對顆粒數(shù)量和每個顆粒所包含的像素數(shù)量的統(tǒng)計，計算出每個顆粒的等面積圓的直徑，以及長徑比等，再對所有的顆粒進行統(tǒng)計，從而得到粒度分布等信息。

圖像分析的主要過程是：

樣品經(jīng)顯微鏡放大成像，攝像頭攝得清晰顆粒形貌圖像傳輸?shù)诫娔X，在電腦上直接觀察粉體顆粒的形貌，通過專有軟件計算分析，得到顆粒個數(shù)、面積、周長、直徑、體積、長徑比、短徑比、圓度系數(shù)等分布數(shù)據(jù)及圖像。同時提供D10、D50、D90、D97、平均粒徑、表面積等數(shù)據(jù)分布圖表。   

應(yīng)用領(lǐng)域

金剛石、碳化硅、硅灰石、石英粉、*、石墨、鈷酸鋰、碳化硼、白剛玉、氧化鈰云母粉、碳粉、金屬粉等各種礦粉：

玻珠、水泥、藥品、食品、顏料、粉塵、催化劑等各種粉體或漿料。

還可以用于驗證其他粒度測試的手段和方法。

技術(shù)參數(shù)